x射线荧光能谱仪产品信息：

　　x射线荧光能谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F（9）~U（92）之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

　　X射线荧光光谱法有如下特点：

　　分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；

　　荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；

　　分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；

　　分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

　　x射线荧光能谱仪优缺点：

　　x射线荧光能谱仪优点:

　　a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

　　b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

　　c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

　　e) 分析精密度高。

　　f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

　　x射线荧光能谱仪缺点：

　　a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。

　　b）对轻元素的灵敏度要低一些。

　　c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。