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硅片

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源头工厂
  • 型号/规格:

    50~120mmn

  • 品牌/商标:

    *

外形尺寸:2” 3” 4” 5” 6“ 8” 12“ 直径: 50~120mm 厚度: 200 -750 μm 技术参数: 导电参数: N 、P型 电阻率: 0.001-60Ω .cm或按客户要求* 少子寿命: 大于 100 μ s 氧含量: ≤1.0 ×1018atoms/cc ...

  • 加工定制:

  • 品牌/商标:

    Honeywell/霍尼韦尔

  • 型号/规格:

    142PC05D

  • 种类:

    压力

  • 制作工艺:

    集成

  • 输出信号:

    模拟型

  • 封装:

    传感器

  • 类型:

    传感器

    类型:温度记录仪 品牌:SMT 型号:SMT-PV-A6 测量范围:0-500SMT-PV炉温跟踪仪主要用于太阳能硅片烧结过程的温度监测。具有高*性、高稳定性、*的隔热性能、*格比等特点,是替代*的产品。型 号SMT-PV-A6SMT-PV-A7尺寸mm2...

    • 品牌/商标:

      *

    • 型号/规格:

      m307124

    类型 粗糙度测量仪/颗粒度检测仪/硅片表面检测/表面检测仪 品牌/商标 * 型号/规格 m307124

    • 品牌/商标:

      华林

    半导体器件设备-硅片显影定影设备 全自动显影机型号:CGB-XXXX—XX系列,品牌:华林嘉业—CGB 1.概述:本设备可用于半导体工艺中对2″~8″硅片进行显影和定影,该产品技术*、一致*,适用于规模生产。 2.整台设备材...

    硅片技术资料

    • 不良太阳能电池片的控制流程

      硅片是太阳能电池片的载体,硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低。太阳能电池片的优劣需要通过测试分选,而对于不良的太阳能电池片,生产过程如何控制呢?下面是不良的太阳能电池片的控制流程:  1、领料时清点发料单上数量,档次(效率或功率)与实物是否相符;  2、拆...

    • 太阳电池用多晶硅片

      本标准规定了太阳电池用多晶硅片的术语定义、符号及缩略语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。  本标准适用于铸锭多晶切片垂直于长晶方向生产的太阳电池用多晶硅片。

    • GBT 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

      本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。  本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)提出并归口。

    电子元器件产品索引: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9

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