SDY-4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法*标准并参考美国 A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试*仪器。仪器体积小、功耗低、测量高、测试速度快、稳定性好、易操作。可满足半导体材料、...
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类型:数字式电阻测量仪表 型号:RTS-3 测量范围:0.01~1999.9Ω.cm(MΩ)*.根据单晶硅物理测试方法*标准并参考美国 A.S.T.M标准设计的*于测量硅晶块、晶片电 阻率及扩散层、外延层、ITO导...
电话:020-33946127