供应X射线荧光光谱仪

  • 型号/规格:

    X-7600 SDD/LE型

  • 品牌/商标:

    美国

产地:美国 主要特点: 1)X-7600SDD/LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中,引进技术,重新定义了“”的概念,使得元素周期表中*元素的检测*得到结果。 2)为分析调查和开发应用提供了*的解决方案,同时,为商业实验室分析提供了一种*、*益的选择。 3)以高、sub-ppm检测为特色,在*、地质和贵金属检测领域中,不管是轻元素还是重元素分析,X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能; 4)*了轻元素例如F、Ne、Na的检测; 5)SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点,与Si-PIN 探测器相比,SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果; 6)8 个二次靶为快速的定量分析提供了的灵敏度,甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。*自定义的二次靶使得检测结果能*sub-ppm 级别; 7)能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要; 8)10个位置的自动进样器整体设计允许了限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作; 9)该仪器检测快速,精准,使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测

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