CHY-U
三泉中石
测厚仪 0.1um 薄膜测厚仪,薄膜厚度测定仪, 涂层测厚仪,0.1um 薄膜测厚仪,0.0001mm测厚仪,数显薄膜测厚仪,万分测厚仪,电子式薄膜测厚仪 CHY-U软质薄膜材料测厚仪0.1μm 适用于2mm范围内各种硬质和软质材料厚度测量。 软质薄膜材料测厚仪0.1μm测试原理 机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。 软质薄膜材料测厚仪0.1μm技术参数 测量范围:0-2mm (其他量程可定制) 分辨率:0.1um 测量速度:10次/min(可调) 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种 机器尺寸:450mm×340mm×390mm (长宽高) 重量:23Kg 软质薄膜材料测厚仪0.1μm配 置 标准配置:主机、标准量块、微型打印机 选用配置:测试软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器
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