颗粒碰撞噪声检测仪PIND4511M
Spectraldynamics
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理:颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.)是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松 动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论。 选型说明:每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括:控制器,振动台,传感器,灵敏度测试单元,软件,示波器,电缆,耗材
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