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美国的三维光学测量仪VIEW Pinnacle+ Plus

美国的三维光学测量仪VIEW Pinnacle+ Plus
美国的三维光学测量仪VIEW Pinnacle+ Plus
  • 型号/规格:

    Pinnacle+ Plus

  • 品牌/商标:

    VIEW

  • 产地:

    美国

  • 保修期:

    1年

  • PDF资料:

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普通会员
  • 企业名:东莞市天测光学设备有限公司

    类型:

    电话: 0769-33215215

    手机:13603074946

    联系人:张人雷

    QQ: QQ:442179358

    邮箱:rex@tiance-optical.com

    地址:广东东莞地址:广东省东莞市中堂镇北王西路华迅科技园8栋102室

商品信息

VIEW Pinnacle%2B Plus

超高精度的尺寸测量系统

VIEW Pinnacle%2BPlus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级

Pinnacle%2BPlus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.

的线性马达控制技术造就了运行速度快,为可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。

特征:

X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50

X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料

平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z

速度:X,Y - 100 mm/sec  /  Z - 25 mm/sec

承载量:25 kg

光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头

计量软件

可选项: Elements

可选项Measure-X

可选项软件模块:

区域多点自动聚焦

连续捕获图像 (CIC)

先进的图像滤光和图像拼接,自定义

UI操作软件

MeasureFit  Plus

SmartPro?le

3D GD&T 评估软件

VMS 离线编程软件

数字输入/输出Digital I/O

Benchmark的应用范围包括:

半导体/电子

BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die

引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

SMT元件贴装

锡膏/环氧数脂胶点

芯片载体和托盒

喷墨打印机墨盒

光纤组件和MEMs

数据存储

悬置件

滑块和悬臂组(HGA)

磁盘介质基板

精密注塑和机加工件

模具和刀具

医疗设备

燃料喷射部件

手表组件

联系方式

企业名:东莞市天测光学设备有限公司

类型:

电话: 0769-33215215

手机:13603074946

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QQ: QQ:442179358

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地址:广东东莞地址:广东省东莞市中堂镇北王西路华迅科技园8栋102室

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