WQ4832
五强
晶体管特性图示仪WQ4832 本仪器具有双簇曲线显示,双向集电*扫描功能,可以对被测半导体器件的特性进行对比分析,便于晶体管的配对. 采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线。本仪器具有双簇曲线显示,双向集电*扫描功能,可以对被测半导体器件的特性进行对比分析,便于晶体管的配对。设有5KV高压装置。该仪器适用于各...
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XJ4810型/XJ4810A型
XJ
XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示,双向集电*扫描电路,可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析,便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div,配备扩展装置后,VC可达3KV;可测试CMOS及TTL门电路传输特性;可对场效应管进行配...
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引 言 晶体管特性图示仪是电子测量常用仪器之一,日前通用的晶体管特性图示仪的扫描信号和阶梯信号由50 Hz工频市电变换而来,扫描频率低,显示的特性曲线闪烁严重,稳定性差;X轴扫描为正弦脉冲,线性度差,在显示晶体管特性曲线时亮度不均匀(前亮后暗),而且波形变换电路复杂。本文介绍一种...