X荧光光谱仪
HP(惠普)
光谱仪技术配置 1. 探测器 -- SDD硅漂移探测器(电制冷,*要通电即可) --典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS). --输入计数率:100KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右) --峰背比:>20000 --铍窗厚度:8um Dura Be(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,*的Dura技术 Be窗可以耐酸,碱的腐蚀) --处...
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