x射线荧光分析仪产品简介：

　　x射线荧光分析仪是国内较新型的一款多元素分析仪，可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。共五个大通道，每个通道各有三十个小通道（可储存30条工作曲线），原则上共可检测150个元素，品牌电脑微机控制，全中文菜单式操作，台式打印机打印结果。

　　x射线荧光分析仪技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　x射线荧光分析仪图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　超大分析平台和样品腔

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　x射线荧光分析仪原理：

　　根据现代光谱仪器的工作原理，光谱仪可以分为两大类：经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器；新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光。

　　根据色散组件的分光原理，光谱仪器可分为：棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光学多道分析仪OMA （Optical Multi-channel Analyzer）是近十几年出现的采用光子探测器（CCD）和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理， 存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率；使用OMA分析光谱，测量准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。

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