EECD61214F测试治具,各类BGA测试座

设备名称：
EECD61214F测试治具
型号/规格：
BGA测试座
品牌/商标：
KZT

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企业名：凯智通微电子有限公司

类型：生产企业

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新品上架

商品信息 更新时间：2011-04-07

供应EECD61214F测试治具,各类BGA测试座!

产品特点及性能参数：

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触*,而不会损坏锡球；
※ *的定位槽或导向孔，*IC定位*，生产效率高；
※ 采用浮板结构，对于BGA IC 有球无球*测,
※ 探针材料：铍铜(标准)，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ *缘材料：电木、FR4、
※ *小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；