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高频光电导少子寿命测试仪 电导测试仪

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商品信息

类型:高频光电导少子寿命测试仪 品牌:恒奥德 型号:KDK-TL-1C 测量范围:见资料（MΩ）

高频光电导少子寿命测试仪型号：KDK-TL-1C

产品名称：KDK-TL-1C高频光电导少子寿命测试仪
产品型号：KDK-TL-1C
生产厂商：北京恒奥德仪器仪表有限公司
产品编号：
产品单价：
所属栏目：热卖产品
产品简介
1、 用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内*属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
2、 设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ 光脉冲关断时间＜1μｓ
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电流：5A～20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率：30MHz 低输出阻* 输出功率＞1W
2.3、放大器和检波器
频率响应：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）
寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）

联系方式

企业名：北京恒奥德仪器仪表有限公司

类型：生产加工

电话： 010-51658042

联系人：高鹏

地址：北京北京市北京市海淀区玉泉路南四顷地1号

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