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【厂价供应】能量色散X荧光光谱仪系列

【厂价供应】能量色散X荧光光谱仪系列
【厂价供应】能量色散X荧光光谱仪系列
普通会员
  • 企业名:深圳市东利电子有限公司

    类型:生产加工

    电话: 0755-82799916

    联系人:李锦崇

    地址:广东深圳华强北路经济大厦四楼433室

商品信息

品牌:东利 型号:Ux-210、Ux-220、Ux-310、Ux-510、 光源:X荧光 波长范围:多种(nm) 焦距:多种(mm) 外形尺寸:多种(mm) 重量:多种(g) 适用范围:测量电气产品中有害元素,满足欧盟ROHS的要求。



能量色散X荧光光谱仪Ux-510
真空测试系统
*设计的真空测试系统,**了轻质元素(CL等)的检测质量,同时保留了原有测试系统对于其他元素的适应性。不会因测轻质元素而降低对其他元素的测试效果。
全自动操作
自动化的操作系统、人性化的操作界面,通过鼠标即可完成*操作(真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品的移动和样品盖的开关、工作曲线的选择*实现自动化控制,程序会根据预先设定的测试条件自动进行*的切换动作)。
照射区*控制系统
可*调整的X光照射区域控制系统,实现了对测试区域的准确把握。**测试数据的对应性。
成熟的经典分析方法
强大的软件功能
·高度智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试。
·可根据测试情况,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既*了相关器件的寿命,又避免了人为操作误差。
·全自动*背景拟合、多元回归等解谱方法的应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。
·*预置的谱图对比功能,很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比,利于对数据变化材质的*分析,进一步*企业的风险应对水平。
·简单、*的数据管理与报告输出格式,方便用户进行相关的数据管理与报告输出。
·用户可很方便的建立不同材质材料的工作曲线,*工作曲线与被测材料的对应性。
·建立本地化的工作曲线库,从而**检测精度。
严谨的硬件集成与结构设计
·对可能影响整机*度及稳定性的*器件,*采用高端*原厂产品。
·严谨的模块化设计与组件选择,*了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
·别设计的原级、二次滤光系统,既*了对有害元素的激发效率,同时*降低了作为干扰因素的背景强度,充分*峰背比,大幅度降低检出下限。
全光路射线*护系统

·*业界的全光路三重*护系统(软件*护、硬件*护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。*机器操作过程中辐射量低于环境本底值。(开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的*警示系统,进一步*用户在该类物质测试过程中的*顾虑)。
·全光路*护的结构设计,减少了无射线区域的无*要*护,进一步*了整机散热质量,**系统的环境适应性及稳定性。
·真空测氯装置,既*了氯元素的检测品质,又避免了因更换光管而对其它元素检测造成检测品质的影响。全自动化操作模式,*降低操作失误。照射区*控制系统,**了测试区域与检测数据的对应性。*了检测的针对性以及用户的风险控制能力。


标准配置

探测器

Amptek X-123 配置原厂 MCA

高压电源

Spellman MNX50P50

X 光管

丹东* X 光管 Mo 靶

真空泵

宁波爱科发 *51

自动化操作系统

*设计 实现:原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动

分析软件

Ux-510 V6.0 多元素分析软件、镀层膜厚分析软件(二选一)

技术参数

仪器尺寸

800 ( W ) ×470 ( D ) ×500 ( H ) mm

样品腔尺寸

小样品腔: 300 ( W ) ×300 ( D ) ×100 ( H ) mm 大样品腔:无限制,小于 30 公斤

真空度

测试真空度 20Pa ,*限真空 0.1Pa

重量

净重: 85Kg

工作环境

15~30 ℃ 相对湿度 ≤85% (不结露)

可分析元素

K-U

检出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm, Pb≤5ppm , Cl≤50ppm

扫描时间

200~500s

探测器*佳分辨率

149&plu*n;5eV

电源

AC220V&plu*n;10% , 50Hz 1000W

选配件

六价格测试仪

多元素分析软件、膜厚分析软件(二选一)



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能量色散X荧光光谱仪Ux-310
凭借*“ 七 · 五 “ 九 · 五 ” 科技攻关计划之科技成果,集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供*、精准、稳定的分析结果。件自动进行*切换与设定动作),避免了操作失误、**检测品质。
自选式功能组合
用户根据自己的控制要求,可自主选择多元素测试软件或膜厚测试软件(二选一)。
全自动配置
自动化的操作系统、人性化的操作界面,通过鼠标即可完成*操作(真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择*实现自动化控制,程序会根据测试条件自动进行*切换与设定动作),避免了操作失误、**检测品质。

成熟、经典的分析方法
· 凭借* “ 七 · 五 ”“ 九 · 五 ” 科技攻关计划之科技成果,集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供*、精准、稳定的分析结果。
强大的软件功能
· 智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试。
· 可根据测试情况,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。
·既*了相关器件的寿命,又**工作效率。
· 全自动*背景拟合、多元回归等解谱方法的应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。
· *预置的谱图对比功能,很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比,利于对检测数据突变材质的准确分析与进一步研究,帮助企业*
风险分析能力及应对水平

· 简单、*的数据管理与报告输出格式,方便用户进行相关的数据管理与报告输出。
开放性工作曲线
· 用户可很方便的根据自身材质状况,针对性的建立风险材料的*工作曲线,**工作曲线与被测材料的对应性。
· 从而大幅度*风险物质的检测精度,**来料允收判定依据的*性。
严谨的硬件集成与结构设计
· 对可能影响整机*度及稳定性的*器件,*采用*高端原厂器件。
· 模块化设计与组件选择,*了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
· *设计的原级、二次滤光系统,既*了对有害元素的激发效率,同时*降低了作为干扰因素的背景强度,充分*峰背比,大幅度降低检出下限。
全光路射线*护系统
· *业界的全光路三重*护系统(软件*护、硬件*护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。
·*机器操作过程中对外辐射量低于环境本底值,开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的*警示系统,*用户在该类物质测试过程中的*保障。
· 全光路*护的结构设计,删减了无射线区域的无*要*护,进一步*了整机散热质量,**系统的环境适应性与稳定性。

标准配置

探测器

Amptek X-123 配置原厂 MCA

高压电源

Spellman MNX50P50

X 光管

丹东* X 光管 Mo 靶

自动化操作系统

*设计 实现:原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动

分析软件

Ux-310 *版 V6.0 多元素分析软件、镀层膜厚分析软件(二选一)

技术参数

仪器尺寸

570 ( W ) ×470 ( D ) ×480 ( H ) mm

样品腔尺寸

小样品腔: 300 ( W ) ×300 ( D ) ×100 ( H ) mm 大样品腔:无限制,小于 30 公斤

重量

净重: 50Kg

工作环境

15~30 ℃ 相对湿度 ≤85% (不结露)

可分析元素

K-U

检出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm, Pb≤5ppm

扫描时间

200~400s

探测器*佳分辨率

149&plu*n;5eV

电源

AC220V&plu*n;10% , 50Hz 1000W

选配件

多元素分析软件、膜厚分析软件(二选一)

六价格测试仪(可进行六价铬的定量分析)

真空系统(可真空测氯;检出限 ≤50ppm )



能量色散X荧光光谱仪Ux-220
X荧光能谱仪 Ux-220
·经济、准确、惠而不凡。快速应对RoHS&WEEE& 无卤化 指令,*控制受限物质*风险
元素检测
·RoHS 检测:用户可方便对 RoHS
·控制的六类物质进行检测与控制。
·Pb、Cd、Hg、六价 Cr (测试总 Cr )PBB 、PBDE ( 测试总 Br) 。
·无卤检测:优良的硬件设计和完善的软件解谱方法,可以精准的测试氯 (Cl) 元素。检出下限* ≤60ppm 。
开放性工作曲线
·用户可很方便的根据自身材质状况,建立风险材料的工作曲线,**工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度*风险物质的检测精度。
强大的软件功能
· 高度智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试。
· 根据工作曲线定义,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既*了相关器件的寿命,避免了人为操作误差。
· 全自动*背景拟合、多元回路等解谱方法应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。
· *预置的谱图对比功能,很方便地实现当前谱图与预设基准图的对比。利于对材质变化进行俘获,进一步*企业的风险应对水平
· 简单、*的数据管理与报告输出格式,方便用户进行相关的数据管理与报告输出。
严谨的硬件集成与结构设计
· 对可能影响整机精度及稳定性的*器件,*采用*高端原厂器件。
· 模块化设计与组件选择,*了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
· 采用*设计的复合滤光系统,既*了对有害元素的激发效率,同时*降低了干扰因素的背景强度,充分*峰背比,大幅度降低检出下限。
· *业界的 X 射线三重*护系统(软件*护、硬件*护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。*了机器操作过程中,仪器环境辐射量不高于环境本底值。(开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的*警示系统,进一步*用户在该类物质测试过程中的*顾虑)。
优良的升级空间
· 购置附件后可定量进行六价铬测试。
· 购置多元素分析软件后,满足多元素检测需求。
· 购置镀层分析软件后,可以进行镀层膜厚测试。

被测物质

检测时间

Br(ppm)

Pb(ppm)

Cd(ppm)

Hg(ppm)

Cr(ppm)

Cl(ppm)

EC680K

2:57:56

89

16

24

2

22

108

EC680K

2:05:57

94

18

24

4

18

104

EC680K

2:10:55

99

18

25

3

17

116

EC680K

2:15:51

98

18

22

2

18

114

EC680K

2:20:29

97

18

24

3

18

99

EC680K

2:25:10

97

18

22

4

18

102

EC680K

2:29:46

97

18

24

3

18

97

真实值

96

13.6

19.6

4.6

20.2

102

平均价值

95.85

17.71

23.5

3

18.42

105.7

标准偏差

3.38

0.75

1.13

0.81

1.61

7.27

表中数据为仪器实测数据,*供参考。一般而言在不同的测试条件、测试技术下,测试数据会略有不同,特此说明。

注: EC680K 为欧盟标准样品。

技术指标

标准配置

探测器

Amptek 100CR

MCA (多道脉冲处理器)

自主研发、制造 UM-C30

高压电源

Spellman MNX50P50

X 光管

*薄铍窗 X 光管( Mo 靶,*大功率 50W )

分析软件

Ux-220 *版 V6.0

技术参数

仪器尺寸

640 ( W ) ×474 ( D ) ×412 ( H ) mm

样品腔尺寸

小样品腔: 300 ( W ) ×300 ( D ) ×100 ( H ) mm

大样品腔:无限制,小于 30 公斤

重量

约 48Kg

工作环境

15~30 ℃ 相对湿度 ≤85% (不结露)

可分析元素

Cl-U

检出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm, Pb≤5ppm , Cl≤60ppm

扫描时间

200~400s

探测器*佳分辨率

149&plu*n;5eV

电源

AC220~240V , 50Hz 350W

选配件

多元素分析软件

膜厚分析软件

六价格测试仪



能量色散X荧光光谱仪Ux-210
RoHS 六项基础检测
·用户可方便对 RoHS 控制的六类物质进行检测与控制。
·Pb 、 Cd 、 Hg 、六价 Cr (测试总 Cr ) PBB PBDE ( 测试总 Br) 。
成熟的经典分析方法
·凭借* “ 七 · 五 ”“ 九 · 五 ” 科技攻关计划之科技成果,集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供*、精准、稳定的分析结果。
强大的软件功能
·高度智能化设计使操作更加简便,轻松成为测试。
·可根据测试情况,自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既*了相关器件的寿命,避免了人为操作误差。
·全自动*背景拟合、多元回归等解谱方法的应用,使复杂材质的检测更加准确、便捷。
开放性工作曲线
·用户可很方便的根据自身材质状况,建立风险材料的工作曲线,**工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度*风险物质的检测精度。
严谨的硬件集成与结构设计
·对可能影响整机*度及稳定性的*器件,*采用*高端原厂器件。
·模块化设计与组件选择,*了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。
·*设计的原级、二次滤光系统,既*了对有害元素的激发效率,同时*降低了作为干扰因素的背景强度,充分*峰背比,大幅度降低检出下限。
·*业界的全射线三重*护系统(软件*护、硬件*护、迷宫式结构),根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。*了机器操作过程中,仪器环境辐射量低于环境本底值。(开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的*警示系统,进一步*用户在该类物质测试过程中的*顾虑)。
优良的升级空间
·购置光路优化系统后可(定性)测氯(检出限 300ppm )
·购置附件后可定量进行六价铬测试。
·购置多元素分析软件后,测试范围可扩展到( K-U ),满足扩展的元素检测需求。
·购置镀层分析软件后,可以进行镀层膜厚测试。

标准配置

探测器

Amptek 100CR

MCA (多道脉冲处理器)

自主研发、制造 UM-C30

高压电源

Spellman MNX50P50

X 光管

*薄铍窗 X 光管( Mo 靶,*大功率 50W )

分析软件

Ux-210 *版 V6.0

技术参数

仪器尺寸

640 ( W ) ×474 ( D ) ×412 ( H ) mm

样品腔尺寸

小样品腔: 300 ( W ) ×300 ( D ) ×100 ( H ) mm 大样品腔:无限制,小于 30 公斤

重量

约 48Kg

工作环境

15~30 ℃ 相对湿度 ≤85% (不结露)

可分析元素

K-U

检出下限

Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm, Pb≤5ppm

扫描时间

200~400s

探测器*佳分辨率

149&plu*n;5eV

电源

AC220V&plu*n;10% , 50Hz 350W

选配件

多元素分析软件

膜厚分析软件

六价格测试仪

光路优化系统(可测氯、检出限 ≤300ppm )

【公司简介】
深圳市东利电子有限公司创建于2002年,总部座落于备有亚洲电子市场*的深圳市华强北路,是以深圳为基地,面向海内外多行业立体辐射的高科技民营企业。公司致力于:

一﹑ROHS*标准检测设备领域
二、色彩分析仪器领域
三、线号、标签打印机领域
四、便携式测量仪器仪表领域
五﹑异种金属焊材、焊接机械领域
六﹑*光纤光缆高端通讯领域
七﹑*、耐高压电子线材领域
八﹑*、耐高压电子*缘材料领域
九﹑*电子胶带,电子化工粘接领域
十、高硼硅彩色玻璃领域
十一、*火*柜系列的研发,生产,销售与服务

  我们拥有一支高素质的研发技术队伍,依托亚洲电子市场*的前沿信息,不断推出并销售*行业潮流的*新科技产品。*大部分产品已获ULCULCSAVDECCCSGS等*质量。

  我们的企业精*是:诚信宽容,务实*

  我们的经营理念是:以人为本,科技*生产,以质量和诚信开拓市场

  我们的质量方针是:*为主,持续改进,向客户提供*、*、方便的产品和满意的服务。

  充满年轻活力的东利人抱着*人先的满腔热情,将其勤劳、智慧、务实、拼搏、*的精*融进工作中去,为实现助你*测量、高温、高压、*缘、粘接、焊接难题的困扰!的理想与追求而奋斗。

联系方式

企业名:深圳市东利电子有限公司

类型:生产加工

电话: 0755-82799916

联系人:李锦崇

地址:广东深圳华强北路经济大厦四楼433室

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