T800系统---------可测试*系列LED包括单晶、双晶、三晶、红外、PT、PD等

功能特性

1、可量测波长λ=200~1100nm，光强度Iv=0~100000mcd CIE视函数探测器；

2、采用*的白光测量方法和光学器件，更*的白光分色技术；

3、可测试共阴或共阳之任何封装，单脚单晶、双脚双晶、三脚双晶之Wafer、SMD或Lamp封装，可测试红外发射管和接收管；

4、量测标准可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley；

5、可选择积分球、视觉函数光探测器或分光光谱仪等光学量测感应装置；

6、实时CIE坐标图及落点显示；

7、16位恒流恒压源和数位量测电表之分辨率；

8、电性量测电路采用Kelvin法，可避免接触电阻和线阻造成之测量误差；

9、完善的报表打印和数据统计系统；

10、全系列LED测试系统解决方案，采用PC-based装置，提供快速灵活之自动测试和人机交互接口；

11、用户可任意定义之电压电流源值，之测试项目*限与下限，之任意安排量测值之输出BIN位；

12、快捷的分级设定功能。

13、可分析蓝光波长与黄色荧光粉合成之白光的坐标位置。

测试规格

1、电流-电压量测：

电流源范围：0~200mA

电流源精度：±0.1%/16位 ±6uA

电压源范围：0~25V

电压源精度：±0.05%/16位 ±0.38mV

4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0

电压量测范围：0~±100V/0~±20V/0~±10V/0~±1V

电压量测精度：±0.1%±2mV

2、电压-电流量测：

电压源范围：0~50V

电流源范围：0~1mA

4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0

电压量测范围：0~±100V/0~±20V/0~±10V/0~±1V

电流量测精度：±0.1%0.03uA

3、光强度量测：

范围：0~100000mcd

精度：±5%

重复性：±0.5%

4、颜色量测：

光谱仪/探测器类型：

Ocean Optics U*2000+ /Sony Silicon CCD,2048Pixels

Ocean Optics U*4000 /Toshiba Silicon CCD,3648Pixels

Control Development Inc. PDA-512-ISA/U*

波长范围：350~1050nm/320~1020nm

光谱曝光时间：1ms~65535ms

光谱分辨率：1.0nm

像素点分辨率：0.3nm

色度坐标分辨率：0.003

操作系统支持

Microsoft Windows 2000 and XP。

量测项目

1、Forward Voltage (正向电压) Vf；

2、Forward Leakage Current（正向电流）If；

3、Reverse Breakdown Voltage（反向崩溃电压）Vz；

4、Reverse Leadage Current（反向漏电电流）Ir；

5、Thyristor（闸流体效应）Thy；

6、Reverse Voltage（反向电压）Vr；

7、Luminous Intensity（光强度）Iv；

8、Total Luminous Flux（全光通量）Φv---积分球；

9、Peak Wavelength（峰值波长）λp；

10、Dominant Wavelength（主波长）λd；

11、CIE Chromaticity Coordinates（色度坐标）（x,y）；

12、Full Width Half Maximum（FWHM光谱功率（能量）分布）；

13、Correlated Color Temperature（相关色温）；

14、Purity（纯度）；

15、Color Rendering Index For White Light LED（显色指数）。

系统组成

1、PC-base（内有可控电流源电压源控制板，分光光谱仪，数字I/O卡）；

2、带SMA905接头之不锈钢保护之光纤；

3、光学测量头：

  1）有SMA905光纤接头、分光棱镜与视觉函数光探测器之光学镜头；

  2）全光通量量测之积分球。

4、CRT Monitor

5、自动分类测试机接口：数字I/O卡提供TTL电平之SOT, EOT和BIN数字信号。