类型:商业服务
电话: 25-84521963
联系人:李述勇
地址:江苏南京四条巷12号文联大楼301室
品牌:K-MAC 型号:ST2000 外形尺寸:190 x 265 x 316 mm(mm) 重量:12Kg(Kg) 产品用途:测量
Stage Size | 150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance) |
Measurement Range | 200?~ 35?(Depends on Film T*e) |
Spot size | 20? T*ically |
Measurement Speed | 1~2 sec./site |
Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
Option | Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) |
Head | Trinocular Head |
Nosepiecs | Quadruple Revolving Mechani* with Inward Tilt |
T*e of Illumination | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
本产品适用于半导体领域内,测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间*短暂,测量方法是属于非接触非破坏方法,使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性,现在,我们公司的薄膜测厚仪是远远*于使用其它方法的其它产品。 【】厚度测量领域内的分解能力属于*初微小领域测量 【】可以*于测量微小领域的厚度分布 【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率 【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示,打印,保存功能 【】可以快速的在1秒之内接受data并且*data
友情链接: 深圳市元东发电子有限公司