您现在的位置:维库电子市场网 > 元器件 > 仪器/仪表 > 测量仪器

手提式X-Ray镀层厚度测量仪HMX(图)

手提式X-Ray镀层厚度测量仪HMX(图)
手提式X-Ray镀层厚度测量仪HMX(图)
普通会员
商品信息

品牌:美国 型号:HMX

手提式X-Ray镀层厚度测量仪HMX

商品详细介绍:

名称: 手提式X荧光测厚仪
型号: HMX系统
厂家: 美国Matrix Metrologies公司
特点:

*

单、双、三层镀层的厚度测量

无论体积多大的电镀件,HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
*的"分组测量"模式,允许计算一组部件的平均厚度

软件
基础参数分析(非标准和标准):点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量*能允许对许多小部分同时进行非接触测量。

快速ID合金分析: 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号; 库存编辑和合金识别能力;

基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素: 钛,铬,锰,铁,钴,镍,铜,锌,锆,铌,钼,铪,钽,铼,铅,银,锡,铋,锑等。(注意:总共可以安装25元素;还有附属的元素包括:镉,金,铂,钯,硒。)

名称: 手提式X荧光测厚仪
型号: HMX系统
厂家: 美国Matrix Metrologies公司
特点:

*

单、双、三层镀层的厚度测量

无论体积多大的电镀件,HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
*的"分组测量"模式,允许计算一组部件的平均厚度

软件
基础参数分析(非标准和标准):点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量*能允许对许多小部分同时进行非接触测量。

快速ID合金分析: 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号; 库存编辑和合金识别能力;

基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素: 钛,铬,锰,铁,钴,镍,铜,锌,锆,铌,钼,铪,钽,铼,铅,银,锡,铋,锑等。(注意:总共可以安装25元素;还有附属的元素包括:镉,金,铂,钯,硒。)

上海域科电子科技有限公司

联系方式:

联系方式

企业名:上海域科电子科技有限公司(市场部)

类型:经销商

电话: 021-67731715

联系人:李娜

地址:上海上海市松乐路128号月厦商务楼1203室

提示:您在维库电子市场网上采购商品属于商业贸易行为。以上所展示的信息由卖家自行提供,内容的真实性、准确性和合法性由发布卖家负责,请意识到互联网交易中的风险是客观存在的。请广大采购商认准带有维库电子市场网认证的供应商进行采购!

电子元器件产品索引: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9