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数字*缘测试仪 FLUKE 1550B(图)

数字*缘测试仪 FLUKE 1550B(图)
数字*缘测试仪 FLUKE 1550B(图)
普通会员
商品信息

品牌:FLUKE 型号:FLUKE 1550B

数字*缘测试仪 FLUKE 1550B

商品详细信息:

  • 测试电压:250V、500 V、1000 V、2500 V 和 5000 V
  • 在250至1000伏的范围内,测试电压可按50伏的步进电压;在1000至5000伏的范围内,测试电压可按100伏的步进电压。
  • 0至 1 TΩ的*缘电阻测量
  • 电压报警功能提示用户电源电压,可测量*600 V 交流/直流电压
  • 保护系统消除了高阻测量时的表面漏流效应
  • 大屏幕模拟/数字显示详细的测量数据
  • 可测量线缆和*缘电容
  • 漏泄电流测试
  • 0至5000伏的直流电压可用于破坏性试验
  • 1 到 99分钟的定时器
  • 自动计算吸收比和*化指数
  • 可在99个存储单元中存储*测量参数
  • 包括 Quicklink 1550B软件和光缆
  • 两年质保

技术指标
测试电压 250 V DC
量程: 200 kΩ 至 5 GΩ
准确度: 5%
量程: 5 GΩ 至 50 GΩ
准确度: 20%
测试电压 500 V 直流
量程: 200 kΩ 至 10 GΩ
准确度: 5%
量程: 10 GΩ 至 100 GΩ
准确度: 20%
测试电压1000 V 直流
量程: 200 kΩ 至 20 GΩ
准确度: 5%
量程: 20 GΩ 至 200 GΩ
准确度:
测试电压 2500 V 直流
量程: 200 kΩ 至 50 GΩ
准确度: 5%
量程: 50 GΩ 至 500 GΩ
准确度: 20%
测试电压 5000 V 直流
量程: 200 kΩ 至 100 GΩ
准确度: 5%
量程: 100 GΩ 至 1 TΩ
准确度: 20%
短路电流
> 1 mA 且 < 2 mA
柱状图
量程: 0 至 1 TΩ
*缘测试电压
准确度: 0% 至 10%,1 mA 负载电流时
感应交流电流抑制
*大: 2 mA
容性负载充电速率
5 s/μF
漏泄电流
量程: 1 nA 至 2 mA
准确度: ±(5% + 2 nA)
电容测量
量程: 0.01 μF 至 15.00 μF
准确度: ±(15% rdg + 0.03 μF)
实时电路指示器
量程: 30 V 至 600 V (AC/DC,50/60 Hz)
准确度: ±(5% + 2V)
定时器
1 - 99 分钟
可调: 1 分钟增量
指示: 1 秒的分辨率
斜波
所选测试电压的0% 到 100%,或者直接到破坏测试电压

环境技术指标
操作温度
-20°C 至 +50°C
存放温度
-20 °C 至 +65 °C
湿度(非凝结)
31 °C时为80%, 50 °C时为50%
*尘/*水
IP-40
操作海拔高度
2,000 m

*特性
*等级
EN 61010-1, CAT III 600V, EN61557, Parts 1 & 2
*电磁干扰能力
EN 61326

机械和通用技术指标
尺寸
170 x 242 x 330 mm
重量
4 kg (含电池)
电池
12 V 铅酸电池,可重复充电
保修
2 年
电池寿命
测试电压 测试次数
250 V: 4100
500 V: 3600
1000 V: 3200
2500 V: 2500
5000 V: 1500
震动和振动
MIL-PRF-28800F, Cl* II
充电器输入
交流: 85 至 250 V AC,50/60 Hz,50 VA

上海域科电子科技有限公司

联系方式:

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企业名:上海域科电子科技有限公司(市场部)

类型:经销商

电话: 021-67731715

联系人:李娜

地址:上海上海市松乐路128号月厦商务楼1203室

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