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X光镀层测厚仪

X光镀层测厚仪
X光镀层测厚仪
  • 型号/规格:

    XRF2000H

  • 品牌/商标:

    MI

普通会员
  • 企业名:海纳斯机电设备有限公司

    类型:生产企业

    电话: 0137-61400826

    手机:13761400826

    联系人:樊先生

    邮箱:fhx2030@163.com

    地址:上海上海市宝山区潘新路路71号601室

产品分类
商品信息

详细资料请电:

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.*数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.*/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,*饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围:
钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序 22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,*微细对焦
高压:0-50KV(程控)
准直器:
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便*的控制品质

联系方式

企业名:海纳斯机电设备有限公司

类型:生产企业

电话: 0137-61400826

手机:13761400826

联系人:樊先生

邮箱:fhx2030@163.com

地址:上海上海市宝山区潘新路路71号601室

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