三．技术指标
1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统,被测器件安装采用锁紧插座。
2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，四只LED显示仪器工作状态。
3. 电源电压：220V±10%，50HZ
4. 整机功耗：12VA
5. 适用温度：0℃--+40℃
6．工作时间：工作1小时停电5分钟。若连续工作，电源电压<230V，环境温度<25℃。
7. 仪器结构：台式塑料机箱
8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米
9. 整机重量：2.0KG

四. 测试范围
YBD868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列:
1. TTL54系列
2. TTL55系列
3. TTL74系列
4. TTL75系列
5. CMOS14系列
6. CMOS40系列
7. CMOS45系列
8. 光耦合器系列
9. LED显示器系列
10. 常用RAM系列
11. 常用单片机系列
12. 微机外围电路系列

五. 功能综述
1. 器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号,并将器件放于对应的工作插座上，------------------可判别出该仪器件的好坏。
2. 器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，*输入该器件的引脚数目，并将被测器件放于对应的工作-------------------插座上仪器即可立即判别出该器件的型号。
3. 器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下"代换查询"键就可知道是否有逻辑功能与之*相同的其-------------------它器件。
4. 器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的型号，并将被测器件放于对应的插-------------------座上，按下"动态老化"键。仪器就可对该器件进行动态老化和连续测试。