品牌:美国VJE 型号:VERTEX-* 别名:X光检测系统 用途:产品*检测

该系统拥有直观且便于使用的操作者界面，并经*一体化，可同时执行图像捕捉、动作控制及并行重建的多个任务。使用了当前*快的灵*再造引擎/计算网络，柏林弗劳恩霍夫研究院(Fraunhofer Institute)的Volex 6软件，系统成为集经济性、快速性、重建量大等优点于一体的*佳方案，无需任何*硬件。通过使用操作者指南，可实现对新样本的快速设定。Vertex Series-*可*机械稳定性，并能为定位及可重复性提供高度的*性。

可用的选配装置包括各种手工压缩组件、虚拟探测器扩大、3D缺陷探测/分析组件及用于3D数据建模及STL数据生成的可视化模块。系统还为高端应用提供了用于*数据集分析及可视化的VG Studio MAX package。

多种X光源及探测器使得系统具有高度的通用性及可配置性的特点，可满足多样化的应用需求。通过对*部件的合理选用，可使系统变得易于使用和维护，同时*保持其在同类产品中的**。
传统的X射线系统提供的图像中，每个像素表示一个由能量穿过样本被累积吸收而产生的灰度值。能量的流失*可被描述为在物质厚度或高度上的不同，因此其提供的只不过是伪3D效果。

通过不同角度的扫描，*获取容积信息并提供个别细部的物理尺寸及位置。数据集的分辨率为所获取图像数量的一个函数。

软件为数据集创建切片并构建*的3D模型，用户可在不同方向对其进行操作和查看，从而实现了*的探测、定位、尺寸测量及特征和缺陷分析

基础系统参数

型号Vertex Series-*
操作控制 X, Y, Z,θ及探测器X轴

分辨率≤1µ (依配置而定)

企业名：上海正勋电子科技有限公司

类型：经销商

电话： 021-54425218

联系人：何思伟

地址：上海上海市上海市闵行区申北路350弄19号502室