半导体激光器特性参数测试仪
山东理工
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半导体激光器特性参数测试仪可用于中、小功率LD的特性参数测试。通过给被测LD逐步增加电流,并采集它两端的电压、输出的光功率和背光电流,从而得到LD的正向注入电流、正向电压、光输出功率等特性参数。与PC机和相应的应用操作软件构成LD特性参数测试系统,可自动绘制V-I、L-I、Im-I、dV/dI、dL/dI特性参数曲线;并由此计算得到LD的其它特性参数,如:阈值电流对应的电压(Vth),指定功率点对应的电流(Iop),指定功率点对应的电压(Vop)。测试仪可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线,同时可根据需要对*测试数据进行打印输出。
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