价格:1 规格:涂镀层测厚仪 品牌:英国牛津仪器 产地:美国 型号:CMI900/950 数量:11  CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种*大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的*自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定*多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中*数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
    CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点*小可达0.025 x 0.051毫米。
    CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用。

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