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半导体膜厚测试仪

半导体膜厚测试仪
半导体膜厚测试仪
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  • 企业名:香港金霖电子有限公司

    类型:经销商

    电话: 0755-29371655

    手机:13602568074

    联系人:舒翠

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    邮箱:2735820760@qq.com

    地址:广东深圳深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110-1112

产品分类
商品信息

半导体膜厚测试仪软件包括 :
(1)X射线部件的操作 
(2)控制整个测量过程 
(3)先进的基本参数法可进行无标准片测量 
(4)用受的标准片进行校准,可以完成有标准片调校的测量 
(5)可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度 
(6)按照元素波峰进行自动元素识别 
(7)测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示 
(8)客户自定义报表工具

半导体膜厚测试仪作为一种在线测量厚度的精密仪器,在电镀工艺生产中占有非常重要的地位,直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的精度。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极,产生不同能级的x射线穿过被测物,比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。








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