电镀膜厚分析仪* 适用于Windows?2000或Windows? XP的真Win32位程序带在线帮助功能。  
* 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。  
* 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。  
* 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）。
* 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中。
* 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)。

电镀膜厚分析仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

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