镀金膜厚测试仪用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上，拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。

镀金膜厚测试仪的优点
    > 采用国际上的、稳定性的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
    > 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
    > 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用的JAVA 技术。
    > 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。

bowman镀金膜厚测试仪测量技术领先同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些意见与技术扶持，值得您的信赖。

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