LED镀层测厚仪遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际标准，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。

LED镀层测厚仪的特点：

A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多4层及24种元素。
B ：度领先于世界
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点

LED镀层测厚仪应用领域：
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析   
3、各镀层的成分比例分析。

企业名：香港金霖电子有限公司

类型：经销商

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