XUL（M）膜厚仪测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
＊可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 使用*简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它*合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能**高的*度和*低的检测限。*短短数秒钟，*从17号元素氯到92号元素镭的*元素*准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br*，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希尔XUL（M）膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技*的目标。深圳金霖菲希尔（fischer）公司为德国菲希尔（fischer）公司的直属分公司，产品包括涂镀层厚度测量（单镀层、多镀层测试，*测量，破坏性测试,线路板表面铜箔测厚,孔内铜测厚），以及材料测试和硬度测试（铁素体含量测试，电导率测试，马氏硬度测试，空隙率测试和铝阳*氧化层质量的测试）。采取各种不同原理进行测试，比如电磁感应原理、涡电流原理，相位感应原理，电解法，B射线，X射线等等。

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