TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更*之*組件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统I*快一*。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降*。


视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC
保护二*体之测试程式

电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向

可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式

完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据
系統具自我诊断功能及远端遙控功能
Board View功能可即時显示不良元件、针点之位置，方便
检修

高科技半導體CMOS Switching設計，無壽命限制，待測物
*性*高

操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
大型主机设计，高密度SwitchingBoard，*高可达3584
测试点

可加装调整装置具动态调整裝調整功能
多重*性设计，确实保障操作人員

*引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空
焊問題，效果*佳
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测BGA开路空焊问题

辅助学习模組可检测IC反向问题
漏电流量测方式可辅助检测電容容性达50-60%
选项*大，可针对同之测试需求，加裝如频率量测、
电压量测、电流量测
具备1MHZ信号源，可*量测小电容小电感

具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对
Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插
问题

具Pin Contact检查功能

项 目

详 细 参 数

测试点数

标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点

大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

测试步骤

*大步骤: 12288步骤,可依需求扩充

测试时间

开路/短路测试:每1000点约1Sec(T*ical DUT)

元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(T*ical DUT)

测试范围

电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二*体: 0.1V至9.99V

电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V

电感:1.0UH至60H

隔离点电路

隔离点自动选择,每测试步骤5点

测试值上下限设定范围

上限:+1%至999%下限:-1%至-99%

可测电路板尺寸

标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)

选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.

主控制电脑

Pentium等级以上PC

*器

15〃夜晶显示器

记忆设备

3.5 1.44*,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台

列印机

标准配备:微型印表机

*其它选购配备

Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光电保护及多连板自动盖章功能

实装板程式烧录功能

*选项测试功能

HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

*大扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up

电源

AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

尺寸重量

OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg