TX220
环宇
企业名:深圳环宇科学仪器有限公司
类型:生产企业
电话: 0755-33927652
手机:13632568748
联系人:陈先生
邮箱:midstone@126.com
地址:广东深圳深圳市南山区南头安乐工业园12栋
TX220型X荧光测厚仪 应用范围 性能指标 技术参数 X光管: 钨(W)靶,*大电压50kV,*大电流1mA 输入电压: AC 220V/50HZ
镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于电镀、真空镀、离子镀的X荧光测厚仪。
钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析
可测镀层: *多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
镀层种类: 单金属、合金、无机薄膜
精度: *高可达0.01um
厚度相对误差: 单层5%,多层10%
厚度范围: 轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um
中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um
*属(如:Pt、Au、Pb等)0.01~10um
*小测量直径: 2mm
分析时间: 20~100S
探测器: 正比计数器
高压电源: 精密X射线*电源,*高输出电压50kV
滤光片: 6组滤光片电动切换,*降低背景干扰
准直器: 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
对焦系统: 旋钮视觉对焦
样品腔: 大气
样品观察: 高清晰彩色CCD射线头
X射线*护: 三重X射线*护(样品腔、机壳、程序控制)
功耗: 260W
样品腔尺寸: 660×400×135mm
外型尺寸: 680×460×475mm
重量: 40Kg
企业名:深圳环宇科学仪器有限公司
类型:生产企业
电话: 0755-33927652
手机:13632568748
联系人:陈先生
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