T*-2004 T*-2003晶体管图示仪，半导体晶体管图示仪

T*2004T*2003, T*-2004 T*-2003曲线图示仪晶体管图示仪半导体晶体管图示仪，图示仪

T*-2003晶体管图示仪

T*-2003峰值电源,模式:AC、全波整流、DC

T*-2003电压0～2kV

T*-2003垂直轴集电*电流2nA～2A(×1、×0.1)

T*-2003水平轴集电*电流50mV～200V(×1、0.1)

T*-2004晶体管图示仪

是测试半导体静·动特性的高灵敏度多功能的曲线测试仪。标准装备数字存储功能，可显示 静止波形。集电**大可印加±2KV，电流灵敏度*大为100pA/DIV，可高*度地测试各种半导体

T*-2004峰值电源,模式:AC、全波整流、DC

T*-2004电压0～2kV

T*-2004垂直轴集电*电流1μA～5A(×1、×0.1)

T*-2004水平轴集电*电流50mV～500V(×1、0.1)

S*-2FR晶体管图示仪

S*-2FR 是可直接观看各种二*管、硅双向开关管(SSS)的特性曲线的图试仪。电流轴和电*的放大采 用*回路，可*地观察急剧变化特性的半导体

S*-2FR峰值电源,模式:AC、半波整流

S*-2FR电压0～2kV

S*-2FR垂直轴集电*电流0.1μA～2A/DIV

S*-2FR水平轴集电*电流0.1V～200V/DIV

S*-5FR晶体管图示仪

S*-5FR峰值电源,模式:AC、半波整流

S*-5FR电压0～5kV

S*-5FR垂直轴集电*电流1μA～2A/DIV

水平轴集电*电流0.1V～500V/DIV

S*-10F晶体管图示仪

S*-30B半导体特性曲线仪

S*-15G特性曲线图示仪

半波整流
重复扫描
1.5.10/SEC连续·单次

标准装备数字存储功能，可右管面确认各种参数的测试条件

比较和显示基准波形与各被测的波形

内藏可保存16个品种数据的存储器、FDD

T*2004观察晶体管、FET、可控硅、UJT、二*管、IC等各种半导体静特性曲线的图示 仪，kdk将这些图示仪分为T*和S*系列。与切换印加电压所测得各点特性值的常数测试仪、特性测试 仪相比，图示仪可一目了然地观测众多的特性，从特性曲线上简单地了解任意一点的特性值。 图示仪可观擦由扫描电源印加电压，与连续产生变化的电流之间的特性曲线，因此可简单地测试电压电 流呈非直线变化的半导体和其他电子部品的电压电流特性。 T*系列采用阶梯波发生器使参数发生变化，由特性曲线群可容易地了解器件的普遍特性。晶体管、 FET的测试需要将接地点作为基准点印加阶梯波，器件的一端为接地，在扫描电源的返回侧*检出电 流的电阻(T*-2003除外) 各机型基本上由扫描电源、电压检出·放大器、串联电阻器、视像管组成

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