工作原理

1.HEAD3020动态离子分析仪TEIMS的工作原理是根据离子飘移的波谱测量技术(Ion Mobility Spectrometry)。这技术能测量微少SF6气体的污染物含量和局部放电所产生*数量的腐蚀性物质的含量;也能检测到*其少量的微水形成腐蚀性物质及有毒物质的含量，更能放置于一台便于携带及耐用*的仪器中，能让维修人员在设备现场实施检测并得到测量结果。

2.不同的化合物分子经过离子产生源（局部放电）后，所产生的离子之流动性有所不同（因质量和几何形状等原因），所测量到的离子漂移时间也不同。污染物使离子群的相互作用力不同， 从而导致漂移时间峰值刻度位置也相应不同。所以， 峰值的漂移，可用于开关中SF6气体的纯度检测，得到一个与SF6中杂质数量相对应的直观的信号。

3.仪器HEAD3020先将所测量气体样本离子化，测量离子于特定的电场内飘移的速度，得出相关的波谱，再跟纯净气体的波谱比较，得出峰值的相差。仪器根据峰值的相差，便能计算出气体中污染物的总含量。

应用特点

1.电力公司、高电压变电站、发电厂。

2.安装可接于*现时通用的阀门。

3.操作简单，机动性高，可长期*GIS、GIT..等气室的SF6*缘品质。能收到有关于SF6气体情

况以及开关工作*性的信息，并可及时判断气体污染情况，在造成开关的故障和严重损坏之前

排除隐忧。

4.量化SF6气体内污染物的含量（0.5-5，000ppm）。

5.测量水分的含量（单位：DP或ppm）。

6.通过内置的压力传感器，可监控密闭空间内的压力。

7.测量局放及其过去记录（即使小于1pc）。

8.到*故障的维修策略。

9.*少的气体消耗量（每次300-500ml）。

10.快速得到测试结果（10秒内）。

主要功能

1.直接动态监控SF6的纯度，并能显示测量SF6内污染物的总含量（0.5 – 5，000 ppmv）。

2.可探测气体*缘空间中小于1PC的电子放电。

3.实现SF6填充空间*故障的检查及维修策略。

4.通过分析周期趋势曲线*开关失效。

5.透过内置的压力传感器，可动态检测并显示监控密闭空间内的压力。

6.通过*测量得到SF6中的微水含量。

7.快速得到测试结果（少于10秒）。

8.*少的气体消耗量（每次约300ml）。

技术参数

1.电源：115/230V  AC，50-60HZ

2.功率：60W

3.信号：0-10V

4.触发：0-10V

5.重量：11Kg

6.尺寸：185×340×320mm

7.压力：*大14bar（1400kpa）

8.流量：2L/h

9.一次测量消耗气体（10次质谱）：约300ml

企业名：上海哈德电气技术有限公司

类型：生产企业

电话： 021-54886722

联系人：周先生

邮箱：support@chinahead.cn

地址：上海上海市上海市顾戴路2535弄99号3栋