XDL210
*CHER
企业名:深圳金东霖科技有限公司
类型:代理商
电话: 0755-29371651
手机:18318816439
联系人:岳生
邮箱:kdl5158@163.com
地址:广东深圳沙井镇新桥综合大楼502
菲希尔XDL系列膜厚仪,是发展继承其前身*CHERSCOPE X-RAY光谱膜厚仪XDL-B系列,其非破坏式的测量,*适合金属镀层厚度检测,如一些五金*件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量检测。其采用了高次数率的比例接收器,可以在没有标准片的情况下,对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出*的测量,另外在WINFTM BASIC 软件的支持下,可测量多至24元素,这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL系列膜厚仪的长期稳定性是十分高的,这使仪器减少校正所需要的时间及次数,便于管理仪器,并*生产效率.应用范围广泛,包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层(如:装饰性铬的镀层)、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析。
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