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测试老化插座,DIP系列封装双列IC电路测试老化,引脚6脚~28脚

测试老化插座,DIP系列封装双列IC电路测试老化,引脚6脚~28脚
测试老化插座,DIP系列封装双列IC电路测试老化,引脚6脚~28脚
  • 加工定制:

  • 品牌/商标:

    飞堑

  • 型号/规格:

    LJZ(S)(T)-XX

  • 应用范围:

    双列集成电路测试老化,高低温老化设备仪器

  • 种类:

    线对线

  • 接口类型:

    其他

  • 形状:

    矩形

  • 制作工艺:

    冲折电镀注塑装配

  • 特性:

    接触*,耐高低温,寿命长

  • 接触件材质:

    锡磷青铜镀金

  • *缘体材质:

    BPT

  • 芯数:

    6脚~28脚

普通会员
  • 企业名:扬州飞堑电子设备有限公司

    类型:生产企业

    电话:

    手机:13390642987

    联系人:方俊国

    地址:江苏扬州中国 江苏 扬州市广陵区 江都路433号

产品分类
商品信息

 

 

                                                           

 

 

一:产品型号说明:

   LJZ----主称代号

      S--- 双侧的中间有散热结构

      T---插座身为见效陶瓷,不标注即为高温BPT

    XX---为插座引脚数总和

二:使用条件:

    老化温度:-55度- 125度

    环境温度:-20度- 40度

    相对湿度:40&plu*n;2度,93&plu*n;3%

    振     动:10-50Hz

    冲     击:5G

三:产品主要性能:

    *缘电阻:500MΩ

    接触电阻:0.03Ω

    产品寿命:≥2000次

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联系方式

企业名:扬州飞堑电子设备有限公司

类型:生产企业

电话:

手机:13390642987

联系人:方俊国

地址:江苏扬州中国 江苏 扬州市广陵区 江都路433号

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