深圳市金东霖科技有限公司是长期专注于仪器、仪表领域。本公司倡导“*、务实、*、*”的企业精*，具有良好的内部机制。优良的工作环境以及良好的激励机制，吸引了一批高素质、高水平、*率的人才。拥有完善的技术研发力量和成熟的售后服务团队。我们的宗旨是：“用服务与真诚来换取你的信任与支持，互惠互利，共创双赢！”我公司愿与国内外各界同仁志士竭诚合作，共创未来！

膜厚仪性能，可测量任一测量点，*小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包含原子序号13至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,*薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材


料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多5层、15 种元素。 *度*于世界，*到0.025um (相对与标准片) 
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中*数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 统计功能提供数据平均值、误差分析、*大


值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 XULM X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
膜厚仪操作 WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其*适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

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