吉时利ACS测试系统将圆片级可靠性测试速度提高五倍

新兴测量需求解决方案提供者美国吉时利(Keithley)仪器公司，日前宣布增强了其ACS(AutomatedCharacterizationSuite，自动特征分析套件)软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR(waferlevelr

分类：业界要闻 时间：2008/5/14 阅读：354 关键词：ACS测试系统吉时利

吉时利增强ACS软件 圆片级可靠性测试提速五倍

新兴测量需求解决方案美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前宣布增强了其ACS（AutomatedCharacterizationSuite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（waferlevelr

分类：业界要闻 时间：2008/5/4 阅读：899 关键词：ACS

吉时利与中国IMC实验室共推射频测试技术

吉时利仪器公司日前宣布与位于中国成都的西南交通大学移动通信研究所(IMC)合作。这项合作计划旨在促成IMC和吉时利开展联合研究项目，扩展现有应用并研究新的无线应用和技术。作为新一代射频测试设备的主要供应商，吉时利的此次合作计划将...

分类：名企新闻 时间：2008/4/2 阅读：227 关键词：吉时利实验室

吉时利宣布与中国IMC实验室共同研发射频测试技术

新兴测量需求解决方案供应商吉时利仪器公司(Keithley)近日宣布与位于中国成都的西南交通大学移动通信研究所(IMC)合作。这项合作计划旨在促成IMC和吉时利开展联合研究项目，扩展现有应用并研究新的无线应用和技术。吉时利的此次合作计划将...

分类：名企新闻 时间：2008/3/31 阅读：783 关键词：吉时利实验室

吉时利与西南交大移动通信研究所合作共同推进射频测试技术的研发

吉时利仪器公司日前宣布与位于中国成都的西南交通大学移动通信研究所（IMC）合作。这项合作计划旨在促成IMC和吉时利开展联合研究项目，扩展现有应用并研究新的无线应用和技术。作为新一代高级射频测试设备的主要供应商，吉时利的此次合作...

分类：名企新闻 时间：2008/3/28 阅读：289 关键词：吉时利

吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm工艺技术

新兴测量需求解决方案提供者美国吉时利(Keithley)仪器公司，日前宣布将与StratosphereSolutions公司合作。StratosphereSolutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与St

分类：业界要闻 时间：2008/2/25 阅读：752 关键词：吉时利

吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术

新兴测量需求解决方案美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前宣布将与StratosphereSolutions公司（Sunnyvale,CA）合作。StratosphereSolutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率

分类：业界要闻 时间：2008/2/18 阅读：196 关键词：吉时利

吉时利推出半导体测试与特征分析套件ACS V3.2版

吉时利（Keithley）仪器公司发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACSV3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能，并以1fA电流测量分辨率支持吉时...

分类：业界要闻 时间：2008/1/22 阅读：166 关键词：ACS半导体

吉时利ACS V3.2版突破测试产能,用以全新并行测试与参数式管芯分拣功能

新兴测量需求解决方案美国吉时利（Keithley）仪器公司,日前发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACSV3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能，...

分类：业界要闻 时间：2008/1/18 阅读：652

吉时利为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU

吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测

分类：新品快报 时间：2007/11/3 阅读：575 关键词：分析系统吉时利

吉时利集成C-V模块及软件4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试

吉时利仪器公司，宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（

分类：新品快报 时间：2007/10/27 阅读：657

吉时利集成C-V模块及软件的4200-SCS系统

吉时利仪器公司(NYSE:KEI)，宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快

分类：新品快报 时间：2007/10/25 阅读：652

具备C-V测量功能的4200-CVU模块（吉时利）

美国吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法

分类：新品快报 时间：2007/10/25 阅读：573 关键词：吉时利

吉时利4200-SCS新增C-V测量模块4200-CVU

吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测

分类：新品快报 时间：2007/10/24 阅读：849 关键词：测量模块吉时利

集成C-V模块及软件的吉时利4200-SCS系统轻松实现C-V/I-V/测试

新兴测量需求解决方案的吉时利仪器公司（NYSE:KEI），宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KH

分类：新品快报 时间：2007/10/24 阅读：204 关键词：吉时利