三星电子已开始建立一条测试线，以提高其第七代 (1d) DRAM 的产量，该内存是领先两代的 10 纳米（纳米，十亿分之一米）水平的存储器。此举被解读为在失去在包括高带宽内存...
福禄克网推出新款耐用型金属LC参考级测试跳线和接入光纤，这将成为所有LC端接测试跳线的标准配置。传统的LC连接器采用单片塑料设计，这种设计会导致锁扣结构弯曲并最终断裂...
分类：新品快报 时间：2021/9/26 阅读：2528
安捷伦科技(AgilentTechnologies)日前发表一款可在极端温度的环境测试箱(environmentalchamber)与其他设定下用于执行示波器量测的探测解决方案──AgilentN5450AInfiniiMax极端温度延伸接线，该产
