惠瑞捷

惠瑞捷技术

惠瑞捷首款具有每接脚8 Gbps高速存储卡V93000测试机

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)在韩国一家不具名客户的生产厂内安装并验证其首款可生产的V93000HSM6800系统。这套新系统是唯一的一款面向当今GDDR5超快存储集成电路(IC)(运行速度超过每接脚4Gbps)的快速高良率测试解决

新品速递 时间:2010/7/27 阅读:2504

惠瑞捷为成本敏感型集成电路推出测试系统V101

惠瑞捷半导体科技有限公司日前针对晶圆测试和时下对成本最为敏感的集成电路和微控制器的成品测试推出了一款新型测试系统V101。V101满足了这些芯片的超低成本要求,以及缓解了日益增长的上市时间压力。V101测试系统拥有多达1024个输入/输...

新品速递 时间:2009/7/13 阅读:1784

惠瑞捷推出面向消费电子芯片的混合信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高集成度的消费性电子产品组件,进行晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest)。半导体设计公司

新品速递 时间:2008/6/2 阅读:1909

惠瑞捷V93000测试系统推出Port Scale 射频测试解决方案

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力,是测试新式的高集成度组件(内含射频、混合信号、

新品速递 时间:2007/12/20 阅读:1522

OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

惠瑞捷宣布,日本冲电气工业株式会社OKI已选用惠瑞捷PortScale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中,其中包括:机顶盒,手机,掌上电脑和其它无线产品等...

新品速递 时间:2007/11/30 阅读:1440

惠瑞捷增加并行机制以缩减存储器测试开发时间

惠瑞捷半导体科技宣布将可编程接口矩阵应用于VerigyV5000e工程工作站,以帮助存储器制造商在应用V5000e进行工程,测试开发和调试时获得并行测试能力。凭借该矩阵,V5000e可以并行测试12颗芯片(DUT),减少产线上的操作人员的时间,同时

新品速递 时间:2007/11/29 阅读:1336

针对V93000 SoC测试系统,惠瑞捷发布Port Scale射频测试方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)针对V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000SoC测试系统开发PortScale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、

新品速递 时间:2007/11/29 阅读:1289

惠瑞捷推出消费电子产品混合信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高集成度的消费性电子产品组件,进行晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest)。可插入惠瑞捷V

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1520

惠瑞捷推出纳米电子数字信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest),推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoele

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1456

惠瑞捷V93000系统推出Port Scale射频测试解决方...

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000SoC测试系统开发PortScale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1336