静电是电子元器件的“隐形杀手”，很多看似“无故失效”的元器件，实则是静电放电（ESD）导致的损坏。据统计，电子设备故障中约30%与静电相关，从元器件仓储、生产焊接到维修调试，每个环节都可能因静电埋下隐患。本文从静电损坏的核心原...
基础电子 时间：2025/12/11 阅读：802
在进行 MCU 选型时，众多工程师往往会着重关注芯片的静电指标，将其视为产品设计的关键参考。然而，实际情况并非如我们直观认为的那样，芯片静电越高，产品的静电指标就一...
设计应用 时间：2025/9/4 阅读：559
在当今电子设备高度普及的时代，静电放电（ESD）对电子设备的危害日益受到关注。瞬态电压抑制二极管（TVS）作为一种常用的静电防护器件，广泛应用于各种电源或信号电路中，...
设计应用 时间：2025/9/1 阅读：630
1. ESD测试的理论基础与标准体系1.1 ESD作用机理静电放电对电子设备的影响主要表现为：直接传导效应：通过I/O端口或电源端口直接注入场耦合效应：近场辐射耦合干扰电磁脉冲效应：快速瞬变产生的宽带电磁干扰1.2 国际标准体系IEC 61000-4-...
基础电子 时间：2025/7/1 阅读：773
USB（Universal Serial Bus）接口的ESD（Electrostatic Discharge，静电放电）防护是保护USB设备和系统免受静电放电损害的一项重要技术。由于USB端口是计算机与外部设备之间的连接接口，使用频繁且暴露在各种环境中，它们容易受到静电放...
基础电子 时间：2025/2/25 阅读：560
人体模型 (HBM) 器件级测试是 ESD 测试最常用的模型。它用于表征电子元件对 ESD 损坏的敏感性。该测试模拟人体对电子元件的放电，如果人体积累了残余电荷（例如，穿着袜子拖着脚走过地毯）并触摸电子设备，就会发生这种情况。集成电路 HB...
行业标准 时间：2024/12/18 阅读：2695
当带电的人用手指触摸组件时，就会产生人体模型 (HBM)。这是最古老的 ESD 测试，最初是为采矿业开发的，它模拟电荷从手指到集成电路引脚的传输，而其他引脚接地。 最近...
设计应用 时间：2024/10/12 阅读：726
鳍式场效应晶体管 (FinFET) 是紧凑型节能技术领域鲜为人知的英雄。非传统的垂直鳍式设计使晶体管能够更好地分配电流。 与水平晶体管相比，它们已经提高了效率，但进步仍在不断到来。研究主要希望减少静电放电 (ESD)，这是强电流的副产...
基础电子 时间：2023/11/28 阅读：789
其实MOS管一个ESD敏感器件，它本身的输入电阻很高，而栅-源极间电容又非常小，所以极易受外界电磁场或静电的感应而带电，又因在静电较强的场合难于泄放电荷，容易引起静电击穿。而静电击穿有两种方式，电压型及功率型。电压型击穿，即MOS...
设计应用 时间：2023/5/16 阅读：503
使用Pickering的新款带静电屏蔽功能的继电器 消除紧密堆叠设计中的噪音
Pickering Electronics是一家拥有超过55年经验的小型化和高性能舌簧继电器的领导厂商，现在可为他们的10kV截止电压的67/68系列SIL/SIP舌簧继电器提供可选的静电屏蔽功能。静电屏蔽可以防止在线圈驱动和高压电路之间出现噪音。这个新功能...
新品速递 时间：2023/2/28 阅读：762
