静电放电（ESD）是PCB及电子设备失效的主要原因之一，人体、设备、环境产生的静电（可达数千伏），会瞬间击穿敏感元器件（芯片、传感器、MOS管），导致设备死机、元器件烧毁，甚至长期隐性损坏，影响产品寿命。PCB防静电设计的核心是“提...
基础电子 时间：2026/3/20 阅读：282
在工业控制、汽车电子、消费数码、接口类产品中，静电（ESD）是导致芯片击穿、死机、重启最常见的原因之一。很多产品功能、结构都没问题，却栽在静电测试上。做好PCBESD设计，能让产品在接触静电±8kV、空气静电±15kV下稳定不掉线、不死...
基础电子 时间：2026/2/25 阅读：260
静电是电子元器件的“隐形杀手”，很多看似“无故失效”的元器件，实则是静电放电（ESD）导致的损坏。据统计，电子设备故障中约30%与静电相关，从元器件仓储、生产焊接到维修调试，每个环节都可能因静电埋下隐患。本文从静电损坏的核心原...
基础电子 时间：2025/12/11 阅读：971
在进行 MCU 选型时，众多工程师往往会着重关注芯片的静电指标，将其视为产品设计的关键参考。然而，实际情况并非如我们直观认为的那样，芯片静电越高，产品的静电指标就一...
设计应用 时间：2025/9/4 阅读：605
在当今电子设备高度普及的时代，静电放电（ESD）对电子设备的危害日益受到关注。瞬态电压抑制二极管（TVS）作为一种常用的静电防护器件，广泛应用于各种电源或信号电路中，...
设计应用 时间：2025/9/1 阅读：722
1. ESD测试的理论基础与标准体系1.1 ESD作用机理静电放电对电子设备的影响主要表现为：直接传导效应：通过I/O端口或电源端口直接注入场耦合效应：近场辐射耦合干扰电磁脉冲效应：快速瞬变产生的宽带电磁干扰1.2 国际标准体系IEC 61000-4-...
基础电子 时间：2025/7/1 阅读：841
USB（Universal Serial Bus）接口的ESD（Electrostatic Discharge，静电放电）防护是保护USB设备和系统免受静电放电损害的一项重要技术。由于USB端口是计算机与外部设备之间的连接接口，使用频繁且暴露在各种环境中，它们容易受到静电放...
基础电子 时间：2025/2/25 阅读：606
人体模型 (HBM) 器件级测试是 ESD 测试最常用的模型。它用于表征电子元件对 ESD 损坏的敏感性。该测试模拟人体对电子元件的放电，如果人体积累了残余电荷（例如，穿着袜子拖着脚走过地毯）并触摸电子设备，就会发生这种情况。集成电路 HB...
行业标准 时间：2024/12/18 阅读：3033
当带电的人用手指触摸组件时，就会产生人体模型 (HBM)。这是最古老的 ESD 测试，最初是为采矿业开发的，它模拟电荷从手指到集成电路引脚的传输，而其他引脚接地。 最近...
设计应用 时间：2024/10/12 阅读：741
鳍式场效应晶体管 (FinFET) 是紧凑型节能技术领域鲜为人知的英雄。非传统的垂直鳍式设计使晶体管能够更好地分配电流。 与水平晶体管相比，它们已经提高了效率，但进步仍在不断到来。研究主要希望减少静电放电 (ESD)，这是强电流的副产...
基础电子 时间：2023/11/28 阅读：805
