AT

AT技术

嵌入式模块化LCR测量解决方案在ATE系统中的应用案例

在先进封装应用加速、集成密度提高、对电源和信号完整性验证需求增长的共同推动下,半导体测试朝着更高复杂度与并行度的方向发展。相应地,晶圆级和封装级测试除了基本的通...

设计应用 时间:2026/9/8 阅读:37

ATA-1220D 宽带放大器:无载流子注入模式下一对多驱动研究的关键应用

本次工作创新性地提出了一种通过无载流子注入器件结构来调控器件驱动频率区间的方法。具体而言,利用不同的频率信号对不同结构的器件进行选通并驱动,同时对器件的结构、光...

设计应用 时间:2026/8/27 阅读:160

ATA - 7050 高压放大器:智能材料驱动器控制实验的关键助力

在智能材料驱动以及非线性系统建模与控制等前沿研究领域,中国地质大学研究团队开展了一项意义重大的实验,他们使用了 ATA - 7050 高压放大器,成功搭建了复合控制器实验平...

设计应用 时间:2026/8/14 阅读:253

高压放大器 ATA - 2022B 在 Lamb 波通信中的应用

在现代科技不断发展的进程中,结构健康监测领域对于数据传输和检测技术的要求也日益提高。Lamb 波作为一种在结构中传播的超声导波,因其具有传输距离远、覆盖范围大、检测...

设计应用 时间:2026/7/24 阅读:422

高压放大器 ATA - 7010 在激励低频可重构磁电天线中的应用

在电子技术飞速发展的今天,低频可重构磁电天线的研究备受关注,而高压放大器 ATA - 7010 在其中发挥着重要作用。以下将详细介绍其在激励低频可重构磁电天线中的应用。  ...

设计应用 时间:2026/7/16 阅读:231

写测试程序前,先看懂一颗芯片怎样被 ATE 测试

在电子行业中,芯片的测试至关重要,而 ATE(Automatic Test Equipment)测试程序在其中扮演着关键角色。本文将以 Magnum EPIC 为例,深入探讨在编写 ATE 测试程序之前,如何理解一颗芯片是怎样被 ATE 测试的。  1. 测试程序控制的是 t...

基础电子 时间:2026/7/10 阅读:852

深度剖析芯片测试三大核心环节:WAT、CP 与 FT 技术

在半导体行业,芯片从设计到量产需历经数百道工序,而测试环节犹如三道严密的质量关卡,守护着每一颗芯片的可靠性。2024 年全球半导体测试设备市场规模已达 67 亿美元,预...

设计应用 时间:2026/6/29 阅读:386

高压放大器ATA-2022B在波场扫描测试中的应用

在电子实验领域,高压放大器 ATA - 2022B 凭借其出色的性能,成为众多实验中的关键设备。本次聚焦于它在波场扫描测试中的应用。  实验概况  实验方向为波动力学,所用...

设计应用 时间:2026/6/18 阅读:901

高压功率放大器ATA-4315在聚焦声场诱导虚拟光波导中的应用

验设备:  高压功率放大器ATA-4315、信号发生器,超声换能器,CMOS相机等  实验内容:  确定超声换能器的最佳工作频段,将换能器表面涂抹超声凝聚并将全息板置于换能...

设计应用 时间:2026/6/11 阅读:951

半导体 WAT 测试是什么?

在半导体制造领域,WAT 测试是一项至关重要的环节。WAT(Wafer Acceptance Test)测试,也被称作 PCM(Process Control Monitoring),它主要针对 Wafer 划片槽(Scribe Line)测试键(Test Key)进行测试,通过对电性参数的监测来确保各...

基础电子 时间:2026/5/18 阅读:442