TE技术资料-维库电子市场网

在先进封装应用加速、集成密度提高、对电源和信号完整性验证需求增长的共同推动下，半导体测试朝着更高复杂度与并行度的方向发展。相应地，晶圆级和封装级测试除了基本的通...

设计应用时间：2026/9/8 阅读：58

在电子行业中，芯片的测试至关重要，而 ATE（Automatic Test Equipment）测试程序在其中扮演着关键角色。本文将以 Magnum EPIC 为例，深入探讨在编写 ATE 测试程序之前，如何理解一颗芯片是怎样被 ATE 测试的。　　1. 测试程序控制的是 t...

基础电子时间：2026/7/10 阅读：852

本指南聚焦于各类高功率主流应用，旨在为 SiC MOSFET 匹配栅极驱动器提供专业且深入的指导。同时，积极探索减少导通损耗与功率损耗的有效策略，以最大化提升 SiC 器件在导...

设计应用时间：2026/6/11 阅读：848

偏置器（Bias Tee）作为电子领域中的关键器件，在射频和微波系统中扮演着至关重要的角色。它主要用于既要传输射频 / 微波信号，又需要加直流供电的器件馈直流电，其中最典...

设计应用时间：2026/5/25 阅读：1040

在汽车功能安全领域，锁步核（LockStep Core）是一项至关重要的技术。那么，什么是锁步核呢？首先，“Lockstep” 直译过来是 “步调一致”，它原本是从军事语境引入的，用于描述齐步行军时队伍中所有人执行一致的动作步伐。后来，这一概...

设计应用时间：2026/5/18 阅读：555

在汽车功能安全领域，锁步核（LockStep Core）是一项关键技术，有助于提升汽车系统运行的可靠性和安全性。下面我们来详细了解锁步核的原理、工作机制以及应用情况。什么是锁步核（LockStep Core）“Lockstep” 直译为 “步调一致”，最初...

基础电子时间：2026/4/27 阅读：502

半导体制造设备供应商 TOKYO ELECTRON (TEL) 当地时间本月 16 日宣布推出面向切割后单颗芯片测试的芯片探针台 Prexa SDP。　　这款设备面向 2.5D / 3D 异构集成流程中的封装前 KGD（注：已知良品芯片）筛选工序，可与传统的晶圆级测试设...

新品速递时间：2026/4/23 阅读：718

埃赛力达Excelitas近日宣布推出Optem Fetura+?高性能变焦镜头，这款电动变焦系统，可提供高速、精准和可靠的高通量半导体和电子检测。　　Fetura+具备12.5:1的电动光学变焦能力，并可在不到一秒的时间内完成全范围移动，非常适合对灵活性...

新品速递时间：2026/4/20 阅读：349

电源完整性（PI，PowerIntegrity）是指PCB上电源网络的电压稳定、阻抗低、纹波小、噪声可控的程度。在高精度模拟电路、高速数字电路（如DDR、FPGA）、高性能计算设备中，PI设计直接决定系统稳定性、信号完整性（SI）及EMC性能。电源噪声...

基础电子时间：2026/3/27 阅读：561

Holtek推出全新直流无刷电机(BLDC)控制专用单片机HT32F65533G与HT32F65733G，采用Arm??Cortex?-M0+架构，专为锂电池或直流中、低压系统设计，分别内建48V与110V的N/N预驱及LDO，提供高度整合的解决方案，适用于电动工具、园林工具、扇类...

新品速递时间：2025/11/26 阅读：3611

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