比表面测定仪

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全自动孔隙及比表面测定仪

全自动孔隙及比表面测定仪(SSA-4200)用于孔径及比表面指标的精确分析:«全过程的微机程控,无需人为操作;«自动的吸附及解吸;«可达上百个分析点;«可进行0.35nm的微孔分析;«安全

分类:新品快报 时间:2006/7/11 阅读:274 关键词:比表面测定仪全自动