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富士通开发出低功耗、高性能45nm逻辑芯片技术

【电脑商网2007年7月4日消息】富士通公司近日宣布,富士通株式会社和富士通实验室已正式开发出具有低功耗和高性能互连技术的45纳米(45nm)LSI逻辑芯片平台技术。与以前的45nm技术相比,新平台可使等待状态时泄漏电流降低至五分之一,同...

分类:新品快报 时间:2007/7/6 阅读:819 关键词:富士通高性能

富士通开发出低功耗高性能45nm逻辑芯片技术

富士通宣布已正式开发出具有低功耗和高性能互连技术的45纳米(45nm)LSI逻辑芯片平台技术。与以前的45nm技术相比,新平台可使等待状态时泄漏电流降低至五分之一,同时还可使互连延时缩短14%左右。这些新一代45nm平台技术的成功开发将使富...

分类:新品快报 时间:2007/7/4 阅读:221 关键词:富士通高性能

富士通开发出新逻辑芯片 将互联延迟缩短14%

TOM科技讯根据日本东京JCN网站消息,富士通公司和富士通实验室18日宣布了他们在45纳米(45nm)LSI逻辑芯片的平台工艺方面的成果,该成果将低功耗和高性能互联技术结合在一起。与早期45纳米工艺的数据相比,新平台将待机状态下出现的电流泄...

时间:2007/6/20 阅读:690 关键词:富士通

富士通为45纳米逻辑芯片开发新工艺

日本东京,2007年6月18日—(ACNNewswire)—富士通公司和富士通实验室今天宣布了他们在45纳米(45nm)LSI逻辑芯片的平台工艺方面的成果,该成果将低功耗和高性能互联技术结合在一起。与早期45纳米工艺的数据相比,新平台将待机状态下出

分类:业界要闻 时间:2007/6/20 阅读:627 关键词:富士通

IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试

1存储器芯片测试存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码,数据文件或者是二者的结合。根据特性的不同,存储器可以分为以下几类,如表1所示。2存储器术语的定义在讨论存储器芯片测试之前,有必要先定...

分类:行业趋势 时间:2007/4/6 阅读:1035 关键词:存储器