KLA-Tencor 推出两款新型薄膜量测系统 扩充Aleris系列
KLA-Tencor公司近日推出Aleris8310和Aleris8350，在Aleris系列薄膜量测系统中增添了两款新品。这些量测系统采用KLA-Tencor的一代宽带光谱椭圆偏光法（BroadbandSpectroscopicEllipso
分类：业界要闻 时间：2008/2/18 阅读：475 关键词：量测系统
成立已28年的远康企业公司，多年来代理多国先进PCB原物料及制造、测试设备，包括铜箔基板、基板／多层板压合机、铜板刷磨机、压合缓冲垫材、及OPTEK二次元／三次元／X-Ray量测机等，在业界享有优良商誉。该公司表示，该公司引进美国OPTEK...
摘要：科技进步，国人越来越重视自我健康状况。对于现在忙碌的人来说，由于饮食作息不正常、日夜颠倒，常容易引发文明病(例如：心血管疾病)。因此本论文设计出一套体积小、...
设计应用 时间：2010/11/12 阅读：5828
◎量测／测试所面临之问题欲建构LCD光学量测系统来检验面板品质，将面临的问题有：1. 建立一套量测系统可快速对面板上某一点之9点、13点、25点均齐度之Luminance(辉度)、CIE(色座标)、Chromaticity、 VIEW ANGLE、Contrast Ratio、Gray S...
基础电子 时间：2009/10/10 阅读：2352
安捷伦科技(Agilent)日前发表一套示波器量测系统，包含设计、除错与验证工具，特别适合于高数据速率序列总线的设计使用。新的AgilentDSA80000B数字信号分析仪(DSA)系统具有的噪声底线、抖动量测底线和触发抖动，以及最平坦的频率响
新品速递 时间：2007/11/30 阅读：1429
