材料试验
安科瑞
安科瑞 华梅超 一:灼热丝试验/Glow wire test 利用模拟技术评定灼热元件或过载电阻之类热源在短时间内对固体绝缘材料或其他固体可燃材料的零件造成热应力影响的着火危险性。 1.1 材料试验方法标准: ●GB/T 5169.10《 电工电子产品着火危险试验 第10部分 灼热丝/热丝基本试验方法灼热丝装置和通用试验方法》 ●GB/T 5169.11 《电工电子产品着火危险试验 第11部分 灼热丝/热丝基本试验方法成品的灼热丝可燃性试验方法》 ●GB/T 5169.12《电工电子产品着火危险试验 第12部分 灼热丝/热丝基本试验方法材料的灼热丝可燃性试验方法》 ●GB/T 5169.13 《电工电子产品着火危险试验 第13部分 灼热丝/热丝基本试验方法材料的灼热丝起燃性试验方法》 ● IEC 60695-2-10《Fire hazard testing—Part 2-10:Glow/hot-wire based testmethods—Glow-wire apparatus and common test procedure,IDT》 1.2 材料试验试验能力范围: 灼热丝温度:500~1000℃ 温度容许误差:500~750℃±10℃; 750~1000℃±15℃. 温度测量度±0.5级。 计时器误差:±1s。 火焰高度测量为1mm。 1.3 材料试验应用领域: 电工设备及其组件和零部件 固体电绝缘材料或其他固体可燃材料 二:针
TEXAS INSTRUMENTS TPS65930A2ZCH 芯片, 电源管理器/音频编解码器, NFBGA-139
LATTICE SEMICONDUCTOR ISPPAC-POWR607-01SN32I 芯片, 电源管理器, ISP, 32QFNS
TEXAS INSTRUMENTS TPS65950A2ZXNR 芯片, 电源管理器/音频编解码器, NFBGA-209
TEXAS INSTRUMENTS TPS659113A2ZRC 芯片, 电源管理器, 12路输出, BGA-240
NXP MC13892CJVL 芯片, 电源管理器, 用于 I.MX35/51, 186MAPBGA
TEXAS INSTRUMENTS TPS75003RHLR 芯片, 三电源管理器
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS MAX8660ETL+T 芯片, 电源管理
TEXAS INSTRUMENTS TPS51220RHBR SYNC BUCK REG W/ LDO, 2 O/P, VQFN-32
FAIRCHILD SEMICONDUCTOR FAN3989MLP8X 芯片, USB/充电检测器, MLP-8
VISHAY SIC403ACD-T1-GE3 芯片, 降压稳压器, 3V-28V, 6A, 0.6V-5.5V, MLP5X5
STMICROELECTRONICS STBCFG01JR 芯片, 电池充电器, 带电量计和LDO, 5.95V, FLIPCHIP-25
STMICROELECTRONICS STBB3JCCR 芯片, 直流/直流转换器, 带WLED驱动器, 2A, FLIPCHIP-20
POWER INTEGRATIONS TNY268PN 芯片, 离线开关
供应原装陶振 CSTLS8M00G53-B0 村田
MURATA PLA10AN3630R3D2B 扼流圈,共模 2X36MH 0.3A
ROXBURGH SMV60 扼流圈,差分模式 0.12MH 6A
EPCOS B82721K2122N20 扼流圈, 共模 2X6.8MH 1.2A
KEMET SS17VA-R10025 电感, 共模, 2500uH, 通孔安装
KEMET SC-01-10GS 电感, 共模, 1000uH, 通孔安装
SCHAFFNER RN212-0.6-02 扼流圈,共模抑制/非对称模式 2X15MH 0.6A