∟ 其他电源IC(3)
技术参数： 平皿测量范围 1～100mm 测量平皿直径 0～50 mm 扫描速度 2400dpi，12ms/线 六碟平皿测量时间 ≤5秒，单碟测量时间≤1秒 测量 单次六碟测量，测量面积210×297mm 分辨率 ≤ 0.001mm 重复测量精度 ≤0.002mm 效价测量精度 ≤0.3% 效价重复测量精度 ≤0.3% 台间误差 ≤0.2% 规 格： 采用CCD扫描仪获取图像，同时可完成六个检品（碟子）的测量分析，通过U*接口和微机连接。Windows 操作系统，采用现成CCD与*少扫描原理获取图像。 www.winstrument.cn www.5117dxy.com 注：图片及文字介绍*供参考，请以实物为准
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