X-RAY镀层膜厚仪 在技术上一直以来都*于*的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,*薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多4层及24种元素。
B ：*度*于世界，*到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中*数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，*小可达0.025 x 0.051毫米

美国博曼膜厚测试仪的优点 
    > 采用国际上**的、稳定性*好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。 
    > 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。 
    > 快速多点校*技术*了系统的长期精度。 
    > 快速、连续、非接触测量、实时显示*测量值。 
    > 操作站：提供中英文操作界面(Win7)。使用*新的J*A 技术。 
    > 采用双放大技术和*大电离室，*测量范围及精度。

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类型：代理商

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