Spectrum仪器宣布M2p系列PCIe卡正式面向市场推出。该系列产品在125MSample/s的速度范围内,对于信号采集与波形生成的多通道测试与测量更具经济效益。 市场对于多通道测...
分类：新品快报 时间：2021/11/3 阅读：1948
无线连接测试专家MVG近日宣布推出微型紧凑天线测量系统系列的最新产品CR-M8。该产品特别适用于天线测量以及在高达110GHz高频下运行的小型设备的射频特征。 MVGCR-M8 MVG...
分类：新品快报 时间：2021/5/25 阅读：3240
MVG推出用于全尺寸汽车天线测量的多探头测量系统SG 3000M
无线连接测试专家MVG近日宣布推出多探头测量系统SG3000M。SG3000M专为全尺寸汽车天线测量和OTA测试而设计，可将现有吸波暗室升级为用于互联车辆的天线测量和OTA测试设备。 ...
分类：新品快报 时间：2020/12/17 阅读：2222
现代的机加工中心较传统金属加工应用中使用的更为复杂。多样的刀柄及轴承会为更换刀具带来困难，难以保障工件加工的同时性及真正的高效性。机加工中心内紧凑、精准的刀具主...
分类：新品快报 时间：2018/4/17 阅读：942 关键词：传感器
为了更容易地符合新的测试报告规范，蓝菲光学(Labsphere)的新型温度/光学/电子LED测量系统（简称“TOCS”）使该系统仅使用单一工具就不仅能测量光学特性，而且同时能测量温度和工作电流。TOCS遵守IESNALM-79标准，生成精确且可反复
国内的第三方测试机构华测检测技术股份有限公司（CTI）于近期购买了一套蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS2米和50厘米直径积分球光谱测量系统用于LED灯具和模组的检测。蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS（大型光源光通量检测系统）
分类：新品快报 时间：2010/8/11 阅读：341 关键词：测量系统
引言光电轴角编码器，又称光电角位置传感器，是一种集光、机、电为一体的精密数字测角装置，它把轴角信息转换成数字代码，与计算机和显示装置连接后可实现动态测量和实时控制。随着编码器在工业、国防、航天等部门的广泛应用，对编码器的...
分类：业界要闻 时间：2008/5/29 阅读：911 关键词：测量系统
Rudolph新一代测量系统交货至亚洲内存厂 单套设备可完成整套铜互连测量
RudolphTechnologies公司日前宣布，新一代MetaPULSE-III薄膜测量系统已经发货至一家亚洲内存制造厂中，用于铜互连存储器件的制造。据悉，该套设备可完成整个铜互连过程的测量工作，包括阻挡层、种子层（seedlayer）、电镀及
分类：名企新闻 时间：2008/3/10 阅读：539 关键词：测量系统
KLA-Tencor推出Aleris 8500薄膜测量系统 提供业界的45nm及以下节点厚度与成分测量技术
据EDNAsia网站报道，KLA-Tencor推出Aleris(TM)系列薄膜测量设备，此系列由Aleris8500开始，是业界款同时结合多层薄膜厚度与成分测量的量产型设备。其他Aleris系列产品将在未来几个月内以不同配备组合推出，以满足
分类：新品快报 时间：2007/12/11 阅读：510 关键词：测量系统
Rudolph推出新款透明薄膜测量系统S3000A 产能成本优势吸引数份订单
为半导体制造行业提供微缺陷检测系统的RudolphTechnologies公司日前推出了款透明薄膜测量系统S3000A。S3000A系统在公司高速XPort自动平台上结合了多波长聚焦束椭圆偏光测量（FBE）及更新更快速的深紫外反射（DUVR）技
分类：名企新闻 时间：2007/11/10 阅读：1151 关键词：测量系统
SIWAREXU是一种微型称重模块，很容易将它集成到SIMATIC自动化系统如S7-300PLC系统中。SIWAREXU能作为一个功能模快被快速安装在SIMATICS7-300系列PLC系统中，或能被连接到PROFIBUS-DP网络上。任何使用称重
随着汽车中电子系统的增加，如何对高度机电一体化汽车系统进行高效率的测试是中国测试工程师面临的挑战，作为本文针对汽车研发过程中所涉及到的各种测试问题，请横河电机介绍满足发动机、驱动、振动、环境影响、燃料电池效率和CAN总线测...
分类：业界要闻 时间：2007/8/21 阅读：1728 关键词：测量系统
三坐标测量机作为大型空间几何量检测设备，在各个领域发挥着越来越重要的作用。由我公司自行研制开发的三坐标测量系统是采用贝家莱公司的可编程计算机控制器（PCC）和伺服电机（ACPOS）为控制和驱动的核心，对三坐标测量机的X，Y，Z轴进...
HT46RU75D-1是盛群半导体新推出的DualSlopeA/DType8-BitOTPMCU，其符合工业规格，具有OTPPartialLock等功能，再加上丰富及多样化的配备，适用于电桥式传感器的测量系统，可用来测量压力、温度、湿度变化的产品，
1引言硅片调焦调平测量系统在光刻机中用来测量硅片表面相对于投影物镜的高度和转角（z和θx、θy)，与工件台垂向3个执行器构成反馈系统，实时控制硅片的垂向位置，保证硅片当前场在曝光过程中始终处于投影物镜的焦深范围内[1]，因此，调...
分类：业界要闻 时间：2007/7/25 阅读：311 关键词：测量系统
