GR4040
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1、数字IC在线/离线功能测试⑴[在线测试] 用测试夹卡住被测数字IC,GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码,再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比,即可发现功能失效的故障器件。直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码,便于*缩小电路板故障范围。⑵[测试范围] TTL74/54、CMOS40/45、存储器、全系列驱动器、29000、8000/80000、9000/90000、3400/34000、HD2500、AMD2500、西门子库、俄罗斯、淘汰器件替代库等十个系列数字IC。⑶[离线测试] 借助离线测试盒对离线状态下数字IC进行功能测试,没有在线因素的影响。⑷[型号识别] 在线、离线识别标识不清或被人为擦掉标识的数字IC的功能型号及替代品。⑸[测试电源] *程控施加组测试+5V电源,采用同步光电控制方式,对电源和地管脚短路、**掉电等情况可准确监测并自动保护。⑹[辅助功能] ①动态总线隔离:多个三态IC的输出并联在一起即构成总线结构。为避免因总线竞争对所测IC的影响,可在其它IC的使能端施加高或低动态同步禁止信号,屏蔽干扰。 ②施加上拉电阻:自动辨别未接上拉电阻或等效上拉电阻的集电*开路数
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