采用极为复杂的OPC，新一代45纳米生产级光掩膜检测系统问世
KLA-Tencor宣布推出TeraScanHR系统——业内首套新一代45纳米生产级光掩膜检测系统。45纳米及以上节点生产中缺陷尺寸小，并采用极为复杂的OPC，这要求检测设备具有极高的分辨率，TeraScanHR满足了这一要求，同时大大改进了生产效
分类：业界要闻 时间：2007/3/29 阅读：777 关键词：检测系统
KLA-Tencor推出业内首套45纳米光掩膜检测系统TeraScanHR
KLA-Tencor宣布推出TeraScanHR系统–业内首套新一代45纳米生产级光掩膜检测系统。45纳米及以上节点生产中缺陷尺寸小，并采用极为复杂的OPC*，这要求检测设备具有极高的分辨率，TeraScanHR满足了这一要求，同时大大改进了生产效
分类：新品快报 时间：2007/3/28 阅读：944 关键词：检测系统
1引言晶片直接键合技术就是把两片镜面抛光晶片经表面清洗和活化处理,在室温下直接贴合,再经过退火处理增加结合强度而成为一个整体的技术。该技术不需要任何粘合剂，两键合片的电阻率和导电类型可以自由选择，工艺简单，是制备复合材料及...
分类：业界要闻 时间：2007/3/8 阅读：147 关键词：检测系统
在当今日益变化的市场竞争中，通过节约成本来实现盈利势在必行。我们知道，利用自动光学检测(AOI)或焊膏检测系统(SPI)将能够大大地节约成本，其中，SPI在设计理念上能在组装的最早阶段捕抓缺陷，更具针对性，从而防止用户将缺陷单板进入...
摘要：研制出一种球销自动化检测系统，利用表面波对球销表面质量进行无损检测，并按其质量好坏进行分类。初步实验表明该系统对球销表面垂直于轴线的裂纹和倾斜的裂纹都能收到比较好的检测效果。关键词：球销；无损检测；自动化检测系统球...
分类：业界要闻 时间：2007/1/16 阅读：1029
英国金属探测公司日前展示了一种新的自动扫描检测系统。名为Tadar的新系统采用先进的信息接收技术和独特的机械扫描技术，能自动检测被隐藏在人的衣物之下的多种武器及危险物品，被认为是目前这方面最有效的系统。随着技术发展，安防企业...
分类：业界要闻 时间：2006/11/29 阅读：803 关键词：检测系统
为扩大主要性能和产能，MolexCopperFlexProducts已向其明尼苏达圣保罗新工厂发送一台LloydDoyle自动光学检测系统。MolexIncorporated是互连解决方案的全球一源供应商，最近收购了全电阻控制、多层柔性电路装配
西门子自动化与驱动集团近日宣布收购德国的Opto-ControlElektronikPrufsysteme公司。这次收购将使西门子把高精度自动光学检测系统融入到自己的Siplace表面贴装技术业务中来。Opto-Control公司的技术级检测系
作者姓名：孔德杰作者单位：北京66476部队摘要：探讨利用虚拟仪器技术，通过编制特定的测试软件，实现对705D雷达天控、轴角、测距分系统，发射控制板和三路+15V电压的16个重要参量进行自动检测的方法和手段。关键词：虚拟仪器；雷达；自...
本文介绍了RF/IF幅度和相位测量芯片AD8302的功能及特点，并给出了此芯片和89C51单片机组成的幅相检测系统的设计方案AD8302简介AD8302是ADI公司的用于RF/IF幅度和相位测量的单片集成电路，主要由精密匹配的两个宽带对数检波器、一
分类：业界要闻 时间：2006/11/2 阅读：1026 关键词：检测系统
如今PCB不仅密集的安装在表面安装设备（SMD）上，而且还装配在透孔设备(THD)上，如：连接器、电容器、断路器和特殊构件以及选择性焊接，通常两面均焊接了PCB。有了ViscomS3016，可以从下方彻底检测这些元件，排除了需要倒装装配的时间。S...
1、系统概述1.1系统构成隧道视频检测系统主要由信息采集子系统、信息处理子系统、信息发布和诱导控制子系统（由监控处理中心提供）三个部分组成，共同完成交通流信息的采集、传输、处理、显示与发布等功能。系统的构成如图1所示。600)thi...
分类：业界要闻 时间：2006/10/24 阅读：1295 关键词：检测系统
安捷伦科技公司(NYSE:A)日前推出安捷伦MedalistSJ50Series3自动光学检测系统(AOI)，这一系统采用独特的成像链和强大的检测算法，是业内秀的AOI。新推出的SJ50Series3扩大了现有的SJ50产品系列，提供了业内
MedalistSJ50Series3使检测时间缩短了50%，提高了系统分辨率--安捷伦科技公司(NYSE:A)日前推出安捷伦MedalistSJ50Series3自动光学检测系统(AOI)，这一系统采用独特的成像链和强大的检测算法，是业内秀的
在2006年半导体设备展(Semicon)中，KLA-Tencor推出其Puma系列的一代Puma91xx暗视野图样晶圆检测系统，据称生产能力可较前一代Puma9000系统提高两倍，并维持相同甚至更良好的灵敏度。该公司声称，这套设备主要针对65
分类：行业趋势 时间：2006/9/29 阅读：637 关键词：检测系统
