CEVA推出用于汽车幼儿遗忘检测系统的UWB Radar平台，以满足新兴安全规范要求
全球领先的无线连接和智能感知技术及共创解决方案的授权许可厂商CEVA, Inc.（纳斯达克股票代码：CEVA）宣布已经扩展RivieraWaves 超宽带 (UWB) IP以支持UWB-Radar，用于Euro-NCAP和其他地区类似规范的幼儿遗忘检测功能（CPD）。 幼儿...
时间：2023/3/22 阅读：117 关键词：电子
艾迈斯半导体推出的全新系列线扫描图像传感器具有10K/15K分辨率，能够在光学检测系统中实现更高的吞吐量
4LS线扫描图像传感器运行速度高达120,000线/秒 ·4线RGB+Clear的独立数据通道完美支持全彩色再现；数字TDI功能可在昏暗光线下提供出色的图像质量 ·4LS在新一代智能工厂...
分类：新品快报 时间：2021/2/23 阅读：5502
中钢使用NI PXI与LabVIEW搭建烧结台车的漏气检测系统
中钢使用NI产品，将对环境的影响最小化，增加产能、降低成本。"我们的解决方案能够明显有效地提高人员安全保障、节约能源、减少二氧化碳排放量，并增加产量。"-王智中,中国钢铁股份有限公司挑战:为了提高烧结工厂的产能，我们需要采用一...
时间：2012/10/22 阅读：1211 关键词：检测系统
应用材料(AppliedMaterials)推出AppliedUVision5晶圆检测系统，用来针对次20奈米节点的逻辑装置，侦测重要图案层中的瑕疵。全新系统的深紫外线(DUV)雷射与同步明视野与暗视野集光功能，相较於先前的工具，能以高达双倍的光照
分类：新品快报 时间：2012/7/19 阅读：562 关键词：检测系统
应用材料公司推出AppliedDFinder检测系统，用于在22纳米及更小技术节点的存储和逻辑芯片上检测极具挑战性的互连层。作为一项突破性的技术，该系统是首款采用深紫外（DUV）激光技术的暗场检测工具，使芯片制造商具有前所未有的能力，在生...
分类：新品快报 时间：2011/3/21 阅读：729 关键词：检测系统
MVP在9月8日在2010年台湾国际半导体展（SEMICONTaiwan）上推出Ultra850G半导体、封装和微电子自动光学检测系统。此次展览将于2010年9月8日到10日在台北世贸中心举行，MVP位于3D集成电路和先进封装与检测馆内的台湾实密科
分类：新品快报 时间：2010/9/8 阅读：681 关键词：光学检测系统
KLA-Tencor推出8900检测系统 触及CMOS影像感应器市场
专为半导体和相关行业提供工艺控制及成品率管理解决方案的全球供货商KLA-Tencor公司宣布推出了8900缺陷检测系统，正式将系列产品之触角延伸至CMOS影像感应器(CIS)市场。KLA-Tencor公司的全新产品8900提供可选光波长、与CI
KLA-TENCOR为28XX宽频明场检测系统发布XP新升级包
专为半导体和相关产业提供工艺控制及良率管理解决方案的全球供应商KLA-Tencor公司（纳斯达克股票代码：KLAC）为28XX宽频明场检测系统发布了一款新的升级包——XP。XP升级包是市面上款可为检测系统提供标准集成电路设计布局文件（让光罩
分类：业界要闻 时间：2009/7/3 阅读：496 关键词：检测系统
日前，8寸晶圆显微镜检测系统经6个月的研发，在北京自动化技术研究院大兴工业基地诞生，这是继大气型硅片专用机械手和waferloader后的又一款新型机械手。这项技术完全由自动化院自主研发、自行生产。整个系统由传输装置、宏观检查装置和...
CyberOptics即将在上海NEPCON上展示焊膏检测系统
日前，在即将举办的上海NEPCON展会第4E19号展台上，CyberOptics公司宣布其将展示100%3-D焊膏检测系统SE300Ultra。NEPCON上海展会将于2009年4月21-24日在上海光大会展中心举办。这种新一代在线100%锡膏检测
分类：名企新闻 时间：2009/3/26 阅读：1064 关键词：检测系统
KLA-TencorCorp.(Milpitas,Calif.)日前宣布推出太阳能电池检测系统——PVI-6，对光伏硅片和电池进行在线双面光学检测。检测工艺贯穿于整个太阳能电池量产过程，从空白硅片到氮化硅(SiN)涂布、金属镀膜和最终的分类测试，而
分类：名企新闻 时间：2009/3/6 阅读：532 关键词：检测系统
安捷伦科技公司日前推出安捷伦MedalistSJ50Series3自动光学检测系统(AOI)，这一系统采用独特的成像链和强大的检测算法，是业内秀的AOI。新推出的SJ50Series3扩大了现有的SJ50产品系列，提供了业内的光学性能。它改
GOEPEL电子将在今年慕尼黑国际电子元器件博览会（electronica）上推出一种具有卓越系统特征的全新在线三维X射线检测系统——OptiConX-Line3D。新系统基于革命性GigaPixel技术，树立了多个新标准，尤其体现在速度方面。Op
日前，美国应用材料（AppliedMaterialsInc.,SantaClara,Calif.）宣布推出针对穿透硅通孔（through-siliconvia，TSV）应用的刻蚀系统CenturaSilvia。同时，应用材料表示，正在发货掩膜检测系
时间：2008/12/3 阅读：360 关键词：检测系统
KLA-TENCOR全新控片检测系统SURFSCANSP2XP出世
近日，KLA-Tencor公司推出了SurfscanSP2XP，这是一套专供集成电路(IC)市场采用的全新控片检测系统，该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的SurfscanSP2XP对硅、多晶硅和金属薄膜上的
分类：名企新闻 时间：2008/9/24 阅读：281 关键词：检测系统
